卡尔·蔡司公司推出跨越显微镜平台的Shuttle&Find解决方案

　　在材料分析领域中连接光学显微镜和扫描电子显微镜(SEM)

　　在2009年奥地利格拉茨举办的显微镜大会上，卡尔·蔡司公司推出了一项在材料领域中连接光学显微镜和扫描电子显微镜(SEM)的综合解决方案。该解决方案的核心元件是样品台、适配器，以及特定的软件模块，该软件能够使SEM快速找到样品在光学显微镜下被选定的分析区域。

　　通过接口可非常容易的将样品台安装进扫描电镜的真空室内

　　该解决方案被称为“Shuttle & Find”，可被广泛应用于材料科学研究领域和日常的工业生产中。“Shuttle & Find”解决方案在早期客户实际应用的基础上，将会更广泛的应用到各个领域中。起初，该技术并不适用于生物领域。

　　光学显微镜成像通常基于反射光、透射光或荧光的，而扫描电子显微镜的出现除了提供高于光学显微镜两倍数量级的分辨率以外，还为样品的更深层次研究提供了更多的可能性。这些方法主要通过X射线能谱(EDX)技术对样品进行形态特征及元素分析。最初，样品在光学显微镜下检测时，要先使用明场、暗场、偏光或微分干涉等方法进行查找观察，然后再将光学显微镜所感兴趣的分析区域放在扫描电子显微镜下进行深入的研究分析。

　　卡尔·蔡司推出的“Shuttle & Find”解决方案，是材料领域中连接光学显微镜和扫描电子显微镜的一种易用接口。蔡司公司的SteREO Discovery、Axio Imager和Axio Observer型号显微镜通过该接口技术可与其所有的扫描电子显微镜联用，如EVO、SIGMA、SUPRA、ULTRA 、MERLIN, AURIGA CrossBeam工作站、NVision 以及NEON。

　　只需几分钟的时间，样品便可以在系统之间进行转换，进入到下一个扫描电子显微镜的样品室中。在SEM中，系统可在几秒钟内便能自动查找到应检测的区域范围。除了对光学显微镜和扫描电子显微镜所提供的图像进行分析外，X射线能谱仪还可对图像进行更为深入的分析研究。

　　来自卡尔蔡司公司SMT纳米技术系统部的产品管理负责人Thomas Albrecht先生说到：“作为世界上唯一一个同时研发、生产和销售光学显微镜和电子显微镜的供应商，卡尔蔡司是注定要去研发材料显微镜解决方案的。今天，随着“Shuttle & Find”接口的发布，我们正在实施一项能使有着巨大差异的两个世界实现对接的战略计划。我们推出的“Shuttle & Find”解决方案是在真正意义上实现了微米世界与纳米世界的相互连接。”

　　原文（英文）链接：http://www.microscopy-analysis.com/news/carl-zeiss-presents-shuttle-and-find-solution-cross-platform-microscopy