吉天参展日本“JAIMAEXPO2010／SIS2010”展会

        2010年9月1---3日，我公司在刘明钟董事长和王安邦常务副总的带领下，参加了与美国Pittcon、德国Analytica及中国BCEIA齐名的日本最大的分析仪器展览会“JAIMA EXPO 2010 / SIS 2010”展会。展会于日本千叶县幕张会展隆重召开，来自世界各国的450多家科学仪器公司和近三万余行业人士参加。此次是中国仪器商第一次参加日本的分析仪器展览会，我公司隆重展出了具有自主知识产权的原子荧光形态分析仪，得到了来自日本，马来西亚，迪拜，伊朗，台湾等国家和地区的热烈关注，纷纷来到展台参观咨询。此次展出给参观者留下了深刻的印象，其中不少留日学者看到中国自己的仪器能够走出国门，走向世界而倍感骄傲。