发布时间:2014-01-01 00:00 原文链接: BrukerDimensionIcon原子力显微镜

Bruker Dimension Icon 原子力显微镜
Bruker Dimension Icon 原子力显微镜
布鲁克纳米表面
布鲁克


Dimension Icon

• 最高分辨率成像 -无论何时,不论哪次

• 最完整的纳米尺度定量信息 

• 潜力无限 – 灵活,开放

• 超乎想象的简单


Dimension Icon

最高分辨率成像—无论何时,不论哪次

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术能够随时得到高分辨率的图像。

003.png

在样品上每个原子实现力扫描。


在感兴趣的位置操作获得高分辨率图像。

004.png

点缺陷的高分辨三维尺寸和机械性能成像


释放带宽实现更快成像

通过快速轻敲,不降低效果的同时增加扫描速度

经由自适用扫描选项达到nm级粗糙度样品上4倍速度的提升

Fast Tapping on SiO wafer

在氧化硅片上快速轻敲


采用双向扫描选项即刻实现成像速度翻倍

Fast tapping on ITO

在ITO上快速轻敲


采用布鲁克专有的高速探针,结合已知最佳规程(BKM)可将扫描速度提高10倍

FastScan C probe

FastScan-C Probe


最完整的纳米尺度定量信息

使研究人员能够通过经常PeakForce Tapping®获得高分辨率图像。

可信的纳米级粘弹性表征

Pspmma image icon more v1

以伪彩示意损耗模量,叠合以三维形貌数据。蓝色区域有较高的损耗模量,红色区域则较低,分别对应于聚苯乙烯(PS)基质和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)掺入物。损失模量数据图通过接触共振原理的布鲁克FASTForce Volume纳米力学模式获得。5微米扫描范围,~ 590kHz, 256x256点采集。


常规地获得高质量力学性能数据。


FastScan syndiotactic polypropylene domains v1

间列聚丙烯畴(紫色)被聚甲基丙烯酸甲酯(蓝绿色)基体包围。在形貌数据上叠合模量数据可简易地区分组分,显示出间列聚丙烯薄片在PMMA基体中扩展。图像尺寸8微米。


获取纳米力学和纳米化学数据的高级AFM研究

在之前不可能研究的样品上研究电学性能。 

Capture the most s1v1

直立碳纳米管的电流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。


获取整体力学数据,从而全面表征接触力学机制。


Capture the most s2v1

左:通过PeakForce Capture™获取原子级力立方,显示垂直截面上单颗原子的位置。右:PeakForce Capture平均数据显示出可溶解结构的的证据。


实时研究原子化学信息。

FastScan Realtime v1

峰值力轻敲高度像(左)和力曲线(右),显示了表面原子排列以及在方解石和云母上样品-探针间原子级相互作用的差异。


潜力无限—灵活,开放

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术获得高分辨率图像。



Unlimited Potential s1v1


先使用已有的测量模式;如果没有,创造一个。

Unlimited Potentail S2v1


在开放的平台上直接进行改造, 与其它技术联用。

FastScan Custom collage v2

左:手套箱中的原子力显微镜-拉曼联用。右:光导AFM附件


直接控制软件和硬件,选择一个最容易的方法:串行通讯端口,信号测试盒,Nanoman/Litho和力脚本等。

FastScan Coding v1

左:通过COM口连入NanoScope软件的仪器集成实例。右:在C++中进行NanoScript编程


超乎想象的简单

ScanAsyst® 图像优化软件,让所有使用者能够获得专家级结果。

FastScan Publication Graph v2

NanoScope®世界上最被认可的,被引用最多的原子力显微镜。


  结合Veecozei新的行业领先的针尖-扫描AFM技术,Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级,X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中,这种表现是非常突出的,优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

  Icon不仅具有非常好的分辨率,它还具备许多新的特性,以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率:

  • 专利设计的扫描管,实现闭环扫描功能同时,具有开环扫描管的噪音水平,在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率

  • 全新设计的XYZ闭环扫描管,在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度,具有非常快的数据采集能力

  • zei新的NanoScope软件版本,提供直观的操作流程及默认实验模块,将复杂的AFM操作流程转化为预先设置

  • 高分辨率的照相机及X-Y定位,实现更迅速、更有效的样品定位

  • 完全开放的针尖及样品环境,适用于绝大部分的标准或定制实验

  • 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术,包括现有的zei先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式







  X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,zei小85um

  Z方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;zei小9.5um

  垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)

  X-Y定位噪音(闭环):≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)

  X-Y定位噪音(闭环):≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)

  Z传感器噪音水平(闭环):35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)

  整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值

  样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径≤210mm, 厚度≤15mm

  电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。

  显微镜光学系统:五百万像素数字照相机,180um至1465um可视范围,数字缩放及自动对焦功能

  控制器:NanoScope V型控制器

  工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口

  震动隔绝:整体式气动减震台

  声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音




Dimension® Icon™优秀的图像分辨率,与Bruker特有的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业领先地位,最新的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新,配置温度补偿位置传感器,实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平,将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上,效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头,即使在较高的扫描速度工作时,也不会损坏图像质量,实现了更大的数据采集输出量。


终极体验

  • 独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有极高的扫描分辨率

  • 极大地降低噪声水平,在轻敲模式下低于30pm,接触模式下可获得原子级图像

  • 热漂移速率低于200pm/分钟,获得真正的样品图像


高效率

  • XYZ闭环扫描器的完美设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率

  • 将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。

  • 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置


全功能

  • 针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求

  • 硬件和软件技术的不断创新,新开发的HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质

  • 用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析


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The intuitive graphical user interface provides immediate access to eight channels and extensive controller functions. Image data (left) show topography of triblock copolymer with 5Kx5K data points, 10μm scan size in closed-loop. Zoomed image (right) is a


参考招标参数:

招 标 编 号:TC18034GG/05 

招标项目名称:中国医学科学院基础医学研究所 2018 实验室设备采购项目—— 受激发射耗损(STED)超分辨成像系统等设备


品目五:原子力显微镜 

 

1 设备名称:原子力显微镜 

2 设备数量:1 台(套) 

3 设备用途:可以对样品的纳米结构、性能进行表征,可以对样品的磁学性能、电学性能进行表征,可在溶液下进行原位测量 

4.仪器应具有可升级性和功能拓展性 

5. 工作条件 (有特殊条件需备注) 

5.1 电源:220V 1500W 

5.2 环境温度:10℃~35℃ 

5.3 环境湿度: 10%~85% 

6. 技术性能参数: 

6.1 控制器: 

6.1.1 包含三个全数字锁相放大器,提供定量相位成像功能:-180℃到 +180℃ 全线性相位成像。通过此三个锁相放大器可直接实现纵向和横向压电响应模式 

6.1.2  八 通 道 数 据 采 集 , 像 素 点 从 256*256  至 少 到 5120*5120 , 单 条扫描线的采样点不少于 16000 点 

6.1.3 具有 Digital Q Control 功能,提高信噪比,可提高 10X 或降低 10X 

*6.2 扫描器: 

6.2.1 扫描范围: 

       XY 方向不小于: 90um x 90um  

       Z 方向不小于 10um 

6.2.2 要求扫描器为三方向闭环扫描器 

6.2.3 XY 方向的闭环噪音水平:<0.15nm RMS 值 

6.2.4 Z 方向的闭环噪音水平: <0.035nm RMS 值 

6.2.5 XY 方向的开环噪音水平: <0.10nm RMS 值 

6.2.6 Z 方向的开环噪音水平:<0.03nm RMS 值 

6.3 探针: 

6.3.1 大气下智能成像模式探针 50 根 

6.3.2 轻敲模式探针 50 根 

6.3.3 溶液下智能成像模式探针  200 根 

6.3.4 无针尖探针   100 根 

6.3.5 溶液下高分辨成像探针  100 根 

6.4  防震台:要求气动防震隔音台,具有隔离电磁信号功能,横向和纵向频率均达到 1Hz 

 6.5  噪音水平及分辨率:整机的噪音水平要低于 0.03nm RMS 值 

 6.6  样品台要求: 

 *6.6.1 样品台尺寸不小于 210mm 直径 

 *6.6.2 样品台为马达驱动自动样品台 

 6.6.3 具有真空吸附功能 

 6.6.4 样品台可 360 度旋转 

 6.7 扫描模式:至少包含以下模式 

6.7.1 contact mode(接触模式) 

6.7.2 tapping mode(轻敲模式) 

6.7.3 Phase imaging(相位成像) 

*6.7.4 Lift mode(抬起模式)  

6.7.5  LFM(横向力显微镜) 

*6.7.6 TR mode(扭转共振模式) 

6.7.7  MFM, TR-MFM(磁力显微镜,横向磁力显微镜) 

       MFM 模式能测量面外磁畴分布 

       TR-MFM 模式能测量面内磁畴分布 

6.7.8 EFM(静电力显微镜) 

6.7.9 surface potential(表面电势成像) 

6.7.10 液态下接触模式、轻敲模式、力调制模式及智能成像模式 

6.7.11 Force distance(力曲线) 

6.7.12 Force volume(力曲线阵列) 

6.7.13 PR-Mode(压电响应成像模式) 

      要求既能测量纵向的压电响应,又能测量横向的压电响应 

*6.7.14 成像模式 

要求此成像模式对操作者没有经验要求,即使对于很软的、很粘的样品,只要能把样品安装上就可获得高质量的图像。要求此成像模式既可工作在大气下又可工作在液态下,并且不需要寻找探针的共振频率 

 *6.7.15 峰值力轻敲模式 

要求此模式采用力曲线的峰值力作反馈,可精确控制针尖与样品之间的相互作用力小至几十 pN,大大减少了针尖的磨损和样品损伤,提高了横向分辨率 

 *6.7.16 定量纳米力学测试模式 

要求在此模式下能在获得高分辨率形貌图像(不小于 512 x 512 像素点)的同时,快速获得(<10 分钟)样品上每个点的杨氏模量、粘附力、能量损失等信息。 

 6.7.17 能精确地测量生物样品上的各种力学性能:标定探针弹性常数,测试频率需要达到 2MHZ,以适应各种弹性常数探针的标定需要 

6.8 光学定位系统: 

6.8.1 视场范围从 180um ~1465um 

6.8.2 CCD 像素点不低于 500 万 

6.8.3 光学分辨率不低于 2um 

6.9 图像处理及分析软件:要求提供无安装次数限制的离线处理及分析软件,软件要求以后可免费升级。此离线处理及分析软件应包含下列分析功能: 

图像处理功能:图像拉平,高斯滤波,高通滤波,低通滤波,图像清洁,图像反转,傅立叶变换,两幅图像相减, 图像旋转,图像缩放等功能 

图像分析功能:横截面分析,台阶高度检测,PSD 分析,颗粒尺寸分析,面积计算,体积计算,粗糙度分析,斜率测量,表面纹理测量,二维图像显示,三维图像显示等功能 


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