二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。 中文名 二次离子质谱 外文名 secondary ion mass spectroscopy(SIMS) 别称：次级离子质谱、离子探针 原理：用一次离子束轰击表面 用途：材料检测与表征、医药研究等 二次离子质谱仪 二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。 [1] 在传统的S......阅读全文
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子
SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次离子质谱图文
1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。SIMS是最灵敏的表面分析技术，元素检测限为百万分之几到十亿分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument
硅中氧、碳的二次离子质谱(SIMS)分析
硅中氧、碳的二次离子质谱（SIMS）分析何友琴马农农王东雪（电子材料研究所 天津 300192）摘 要 本文采用相对灵敏度因子法，对硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法进行研究。通过对样品进行预溅射的方法，氧、碳的的检测限分别可达到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。关
二次离子质谱SIMS应用：从半导体材料到生命科学
在2012年以前，汪福意研究员一直带领团队通过有机质谱，如电喷雾电离质谱(ESI-MS)、基质辅助激光解析电离质谱(MALDI-MS)等进行药物相互作用组学研究、抗肿瘤药物的研究和开发等工作。一次与生物学家偶然的讨论给汪福意带来了启发，他萌生了使用高空间分辨率的二次离子质谱成像进行化
飞行时间二次离子质谱（TOFSIMS）研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂，再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够，因此，对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识，建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
二次离子质谱的特点
1.获得样品最表层1-3个原子信息深度信息； 2.可以检测同位素，用于同位素分析 ； 3.达到ppm~ ppb级的探测极限。 4. 可以并行探测所有元素和化合物，离子传输率可以达到100%。 5.采用高效的电子中和枪，可以精确的分析绝缘材料。 6. 具有很小的信息深度（小于1nm）；可
二次离子质谱的原理
二次离子质谱是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子，通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。它利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表
二次离子质谱技术的分析和应用
二次离子质谱是一种具有超高分辨率和灵敏度的固体表面分析技术。它可以分析氢元素到铀元素在内的所有元素和同位素，还可以得到固体表面官能团和分子结构等信息。SIMS可以分为静态SIMS（SSIMS）和动态SIMS（DSIMS）两种类型，通过不同扫描类型，得到二次离子质谱图、化学成像、动态深度剖析曲线等
二次离子质谱的原理组成和结构
二次离子质谱Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加
二次离子质谱仪的质谱原理
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象（基本原理如图1所示）。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子
二次离子质谱仪（SIMS）
二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导
动态二次离子质谱分析（DSIMS）
动态二次离子质谱分析（D-SIMS）1. 飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子的质量来测定元素种类，具有极
二次离子质谱原理是什么？应用哪些方面？
二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。 在传统的SIMS实验中，高能一次离子束
二次离子质谱概述
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。 用一次离
二次离子质谱技术
海洋有机地球化学检测方法二次离子质谱技术简述 摘要：海洋有机地球化学是通过研究与还原性碳相关的物质来揭示海洋生态系的 结构、功能与演化的一门科学。由于其中的有机组分通常以痕量、复杂的混合物 形式存在，且是不同年龄、不同来源、不同反应历史生源物质的集成产物，所以 总体分析困难较大。目前主要是从整体水平
二次离子质谱的结构
近年来，二次离子质谱这一前沿的分析技术越来越多地被用在了科学研究当中，应用范围较为广泛。然而，依然有很多小白对二次离子质谱的基本结构不太了解。那么二次离子质谱的组成结构是怎样的呢？都有哪些功能和特点？今天小编就来简单盘点一下。 二次离子质谱主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次
电喷射质谱的原理和应用特点
中文名称电喷射质谱英文名称electrospray mass spectroscopy;ESMS定 义一种使不同质量的粒子在电磁场中运动并按照质荷比进行分离的技术理论。即气体在电子的轰击下会产生带电粒子，带电粒子在电场的作用下获得能量做加速运动，而在磁场的作用下将做圆周运动，具有不同质荷比的离子其
离子阱质谱和四极杆质谱的原理
四极杆（Quadrupole）：由四根带有直流电压（DC）和叠加的射频电压（RF）的准确平行杆构成，相对的一对电极是等电位的，两对电极之间电位相反。当一组质荷比不同的离子进入由DC和RF组成的电场时，只有满足特定条件的离子作稳定振荡通过四极杆，到达监测器而被检测。通过扫描RF场可以获得质谱图。四极
离子阱质谱的概念和原理
离子阱质谱（ITMS）是利用高电场使质谱进样端的毛细管柱流出的液滴带电，在氮气气流的作用下，液滴溶剂蒸发，表面积缩小，表面电荷密度不断增加，直至产生的库仑力与液滴表面张力达到雷利极限，液滴爆裂为带电的子液滴，这一过程不断重复使最终的液滴非常细小呈喷雾状，这时液滴表面的电场非常强大，使分析物离子化并以
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子
四极杆质谱和离子阱质谱原理对比
不论是四极杆质谱，还是离子阱质谱，其分析原理是相似的，其差别在于具体的分离过程。在离子化的过程中，待测的物质被一定能量的电子束撞击，解离成离子，并碎裂成一系列能反映其物质性质信息的碎片离子。接下来，这些碎片离子被离子阱或四极杆分离并检测，按照质荷比m/z的大小绘制成一张可以体现物质定性信息的质谱图，
关于二次离子质谱仪操作模式的介绍
SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间
离子阱质谱的性能和应用介绍
离子阱有全扫描和选择离子扫描功能，同时具有离子储存技术，可以选择任一质量离子进行碰撞解离，实现二级或多级MSn分析功能。但离子阱的全扫描和选择离子扫描的灵敏度是相似的。广泛应用于蛋白质组学和药物代谢分析。已经出现了很多离子阱质谱与其它分析仪器联用的技术，如气相色谱-离子阱质谱联用仪（GC-ITMS）
离子阱质谱的应用
利用离子阱作为分析器的质谱仪称为离子阱质谱仪。使用最多的是由高频率电场进行离子封闭的保罗阱。由一个双曲面截面的环形电极和上下一对端电极构成。封闭在真空池内的离子，通过高频电压扫描，将离子按m/z从池中引出进行检测。 离子阱质谱仪是一种低分辨时间可以进行msn的测定。而且价格比其它类型的串联质谱
离子谱法的测定原理和应用
本法适用于生活饮用水及其水源水中钠和钾、锂、钙和镁的测定。水样中阳离子Li+ ,Na+ ,NH4+,K+ ,Mg2+和Ca2+ ,随盐酸淋洗液进入阳离子分离柱,根据离子交换树脂对各阳离子的不同亲合程度进行分离。经分离后的各组分流经抑制系统,将强电解质的淋洗液转换为弱电解溶液,降低了背景电导。流经电导
飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次
离子迁移谱和质谱的区别
离子迁移谱和质谱有相同之处，也有不同之处。都要先对目标物离子化，所以都有离子源；最终经过分离、检测的都是离子，检测器基本也一样；都是既可以检测正离子也可以检测负离子（+/-模式）。不同的是离子分离的原理：离子迁移利用离子的淌度不同分离离子，在离子迁移管中完成，离子的淌度与离子的电荷数、离子的体积大小
二次离子质谱可完成癌细胞分析
哥德堡大学（University of Gothenburg）进一步开发了二次离子质谱的应用，以帮助研究人员更好地检测身体中的有害细胞。 “该方法可以变得重要，例如对于乳腺癌组织的未来分析。”博士生Tina Angerer说。该方法可以被描述为首先通过在其处喷射气体射弹从一片组织释放分
二次离子质谱可完成癌细胞分析
分析测试百科网讯 哥德堡大学（University of Gothenburg）进一步开发了二次离子质谱的应用，以帮助研究人员更好地检测身体中的有害细胞。 “该方法可以变得重要，例如对于乳腺癌组织的未来分析。”博士生Tina Angerer说。该方法可以被描述为首先通过在其处喷射气体射弹从一片