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X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF) 一台典型的XRF仪器的核心硬件包括X射线源与X射线探测器及多通道数字脉冲处理器。其中X射线源是提供激发样品特征X射线的光源， X射线探测器检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲，而多通道数字脉冲处理器则能够将探测器转化来的脉冲信号进行处理，从而得到X射线的能谱图。 日立X射线荧光光谱仪EA1000AIII通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备，实现了低价格化。与以往仪器相比，环境管制物质的测量时间大幅缩短，材料......阅读全文
3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时，又引起其它Ar原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
X荧光光谱仪原理仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
现在我们脚受伤了什么的第一个想到的就是去医院拍一个片，既可以清洗清晰的看到脚上的情况，还可以方便医生诊断病情。所谓的拍片就是X光，又叫X荧光，以前中国大部分的X荧光都是进口的，可现在中国德技术越来越先进，国内很多制造业也发展起来，我们看看我国的X荧光的发展史！
在中国，很多厂家更加喜欢购买进口的仪器，这不仅仅是因为国民对进口的认同和对国产不信任，还因为X荧光光谱技术的发展历史，下面让我们一起来追溯X荧光光谱技术的发展。X荧光光谱技术的发展1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪，这是中国第一次引进X荧光光谱分析仪。 &nbs
X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台X射线荧光分析仪,至60
X荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12～10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁.当较
X荧光光谱仪的简单介绍 x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域，是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术，可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选
1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光
1）滴定法湿法化学分析测定陶瓷原料的化学成分，滴定法是其中常用的方法之一。滴定分析法的原理是，滴定试剂与被测组分在适当的酸碱pH值下反应，通过指示剂在反应达到终点时颜色突变所使用的滴定试剂的多少来计算被测物的含量。陶瓷成分测定中，三氧化二铝、氧化镁＞5%、氧化钙、三氧化二铁、氟化钙、较高含量的二氧化
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。 一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放
X荧光光谱仪的优势和劣势优势:a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测
摘要：随着社会经济的发展，人们对生活水平的要求也越来越高，人们的目光逐渐从住所房屋问题聚焦到食品上来。食品工业化程度的高速发展和日愈扩大，近年来所发生的一系列食品安全问题，新的工艺技术及添加剂的广泛使用，滥用各种食品添加剂引发的食品安全事件的报道层出不穷。食品安全不仅仅关系到国民的身体健康和生命
通常认可的重金属分析方法有：紫外可见分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X射线荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析，但对国内用户而言，仪器成本高。也有的采
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到*，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光
通常认可的重金属分析方法有：紫外可见分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X射线荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析，但对国内用户而言，仪器成本高。也有的采
通常认可的重金属分析方法有：紫外可见分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X射线荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析，但对国内用户而言，仪器成本高。也有的采
荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。X荧光光谱仪的工作原理： X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理
【成分分析简介】 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。 【成分分析分类】 按照对象和要求：微量样品分析 和 痕量成分分
金属元素对于人类的日常生活非常的重要，它们几乎分布在人们周围的一切地方，可以说没有金属，就没有现代生活中发达的科技，从最初殷商时代的青铜器，到现在拥有各种各样用途的金属制品，矿石的开采与金属的冶炼贯穿了人类的科技发展史。随着科技的发展，测定矿石中的金属元素的含量也成为了冶金行业的重要工作。在矿石的金
X荧光光谱仪的原理 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 （10）-12-（10）-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态.这个过程
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻
一、光谱法与非光谱法凡是基于检测能量作用于待测物质后产生的辐射信号或所引起的变化的分析方法均可称为光学光谱分析法，常简称光分析法。根据测量的信号是否与能级的跃迁有关，光学分析法可分为光谱法和非光谱法两大类。非光谱法测量的信号不包含能级的跃迁，它是通过测量电磁辐射某些基本性质，如折射、散射、干涉、衍射
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡
X荧光光谱仪是目前常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也