关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品，样品中原子的内层电子被激发，当外层电子跃迁时产生特征X射线，通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。......阅读全文
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
关于XRF仪器的特点介绍
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
关于XRF的仪器分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
便携式XRF仪器工作原理
便携式X射线荧光（XRF）仪器检测样品时，仪器向样品发射高能X射线，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,内层电子因外力被撞出，内层电子运行轨道上出现空位,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到内层空位时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而击出较外层的另
关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。
关于XRF的优点介绍
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 测试元素范围大，WDX可在p
关于XRF的发展历程介绍
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
便携式XRF仪器的优点介绍
与传统元素分析技术相比，便携式XRF仪器最大的优点就是不会损坏样品，是完全无损的分析技术。 与台式XRF仪器相比，便携式XRF仪器很轻，小的仪器重量约3Kg 左右，单手就轻易握住，很方便就可以携带至检测现场。用户不再需要将样品送到实验室检测，所以也不需要再切割损坏样品。极大提高了检测效率，降低
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF的基本原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量(单位:千电子伏特，keV)和波长(单位:nm)描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱
关于XRF的缺点和不足介绍
a)难于作绝对分析，故定量分析需要标样。 b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
关于XRF的详细信息介绍
X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管
关于XRF的应用领域介绍
XRF是一种确定各种材料化学组成的一种分析方法。被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XR
XRF仪器选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测
XRF合金分析仪的原理介绍
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。 每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道
XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF仪器的优点有哪些？
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF仪器的基本理论
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到
XRF仪器的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自
简述XRF仪器的结构组成
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
简述XRF仪器的主要应用行业
一、石油化工行业 A、检测原油、燃料油、润滑油、渣油等油品的污染元素、有害元素等。 B、检测催化剂中的活性成分：Pt、Pd、Ir、Re等贵金属元素或者Ni、Co、W、Mo等非贵金属元素，通过对催化剂中的元素进行分析，可以判断催化的活性。 C、检测聚合物中的残留及杂质：Na、Mg、Al、Si
管激发型XRF仪器的特点
管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比，最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压，可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布，进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率，提高分析能力。再者，X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源，光路的几何布置受限制小，可使用准直器、滤光片
XRF检测仪器产品特点
XRF检测仪器是一款具有三重X射线防护措施；人性化的操作界面；应用α算法、FP法、经验系数法、基本参数法分析软件。满足RoHS/WEEE相关管控要求，完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。 EXF-10A适用于工厂来料及制程控制中的有害物质检