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X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差的原因主要有操作方面、仪器方面、以及试样本身等三方面因素。 一、在X荧光光谱仪分析中操作方面带来误差的因素： 1、在X荧光光谱仪分析制样过程中，粉磨时未设定好粉磨时间和压力，达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。实验表明当粉磨时间短于试验设定时间，测定结果就会产生波动。同时，粉磨时未按规定加适量助磨剂或所加助磨剂中含有所要分析的元素，都会给测定结果带来较大影响。磨头和磨盘里留有前期样品或被其它物质污染），结果也会产生误差。 2、X荧光光谱仪分析制样过程中压片时，......阅读全文
天瑞仪器参展第十四届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞仪器在北京展览馆2号会议室举办了合金分析、重金属检测技术交流会。来自科研院所、高等院校的30余名专家学者参加了本次交流会，共同探讨XRF仪器新技术，及其在合金行
3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时，又引起其它Ar原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到*，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光
一、X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分
目前随着分析技术的不断发展，X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。 尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速度快、度高、成本低等优点在水泥生产中广泛应用，但由于水泥原料矿物的成分及结构复杂，样片的
X荧光光谱仪是目前常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也
X荧光光谱仪是目前zui常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的
一、X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。 X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放
方案优势 X 荧光光谱法大大节约时间，提高工作效率，将检测时间由4 h 缩短至5 min，其重复性、稳定性和准确性均能满足日常检测要求。 采
1、 X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片
样品制备 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要
分析测试百科网讯 2017年9月7日，第一届原子光谱应用与技术学术研讨会暨原子荧光交流会在云南昆明开幕。会议由中国质量检验协会检验检测设备分会原子光谱应用与技术专业委员会、中国仪器仪表学会分析仪器分会主办，昆明理工大学分析测试研究中心、《中国无机分析化学》、国家磷资源开发利用工程技术研究中心协办
一、固体样品1、固体样品的主要缺点是，一般情况下不能采用各种添加法：如标准添加（或稀释）法、低（或高）吸收稀释法、内标法等。若所有样品中已经含有适当的、一定浓度的内标元素，则上述的最后两种方法还是可用的。另外，也不能进行化学浓缩和分离。表面结构和成分有时也难取得一致。可能弄不到现成的标样，而人工合成
特点： (1)避免了荧光干扰; (2)精度高; (3)消除了瑞利谱线; (4)测量速度快。 拉曼光谱的分析方向 拉曼光谱仪分析技术是以拉曼效应为基础建立起来的分子结构表征技术,其信号来源与分子的振动和转动。 拉曼光谱的分析方向有： 定性分析：不同的物质具有不同的特征光
拉曼光谱的原理及应用 拉曼光谱由于近几年来以下几项技术的集中发展而有了更广泛的应用。这些技术是：CCD检测系统在近红外区域的高灵敏性，体积小而功率大的二极管激光器，与激发激光及信号过滤整合的光纤探头。这些产品连同高口径短焦距的分光光度计，提供了低荧光本底而高质量的拉曼光谱以及体积小、容易使用的
城市固体废弃物(MSW)主要来源于日常生活。在很长一段时间内，这些废弃物都堆放在城市垃圾填埋场。近年来，MSW被视为一种资源，通过回收某些部分或者通过恢复操作，如转换成能源和肥料。MSW通常包括塑料，纺织物，硬纸板/纸和有机物质。废弃物的化学表征来测量任何有害元素是确定处理工艺的关键。此外，如
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的
摘要：介绍了微波消解技术在RoHS样品的预处理中的应用，对微波消解制样的主要影响因素进行了探讨，初步建立了优化的样品消解程序，测定结果满意。关键词：微波消解；RoHS；样品预处理1引言目前国内外检测机构和企业大多首先应用X射线荧光光谱仪对原料及产品中Pb、Hg、Cd、总Cr和总Br等元素的含量进行定
粉末样品误差主要来源：（1） 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说，被分析样品的粒度越小，荧光强度越高，轻元素尤甚。原子序数越小，对粒度越敏感；同一元素粒度越小，制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。（2
原子吸收光谱仪是分析化学领域中一种极其重要的分析方法，但是很多用户在使用过程中经常会遇到这样或者那样的问题，比如标准曲线的线性不好、数据不稳定、空白值较高、漂移很大等问题。 本文是原子吸收光谱仪在使用过程中经常遇到的200个问题及解决方案，这是广大原子吸收光谱仪一线用户的
拉曼散射效应的进展 1928年，印度物理学家拉曼(C.V.Raman)发现曼散射效应，荣获1930年的诺贝尔物理学奖。 1928-1940年，拉曼光谱成为研究分子结构的主要手段。 1960年以后，激光技术的发展使拉曼技术得以复兴。由于激光束的高亮度、方向性和偏振性等优点，成为拉
分析测试百科网讯 2017年6月29日-30日，2017中国光谱仪器前沿技术研讨会在北京紫玉饭店举办，会议由中国仪器仪表学会主办，中国仪器仪表行业协会支持，《现代科学仪器》编辑部承办。来自光谱领域的专家学者200余人参加了本次会议。分析测试百科网作为支持媒体参加。2017中国光谱仪器前沿技术研讨
拉曼（Sir Chandrasekhara Venkata Raman, 1888（戊子年）-1970）。印度物理学家，又译喇曼。因光散射方面的研究工作和拉曼效应的发现，获得了1930年度的诺贝尔物理学奖。1921 年，印度物理学家拉曼（C. V. Raman）从英国搭船回国，在途中他思考着为什