新一批国标即将制订，涉及GCMS、ICP、SEM等方法
分析测试百科网讯 近日，国家标准化管理委员会发布了关于对《电子称重仪表》等67项拟立项国家标准项目公开征求意见的通知。在此项通知中，涉及多项关于仪器分析方法的标准制订，包括GC-MS、ICP-MS、SEM、IC、HPLC、滴定法等。 具体统计如下： #aabbccdd1 td{border:1px solid #666666} 项目中文名称 制修订 ......阅读全文
新一批国标即将制订，涉及GCMS、ICP、SEM等方法
分析测试百科网讯 近日，国家标准化管理委员会发布了关于对《电子称重仪表》等67项拟立项国家标准项目公开征求意见的通知。在此项通知中，涉及多项关于仪器分析方法的标准制订，包括GC-MS、ICP-MS、SEM、IC、HPLC、滴定法等。 具体统计
汽油国标发布，大幅刺激ICP仪器市场
2014年9月26日国家标准化管理委员会发布的2014年第一批国家标准制修订计划通知中，将《车用汽油中总硅含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法》、《电感耦合等离子体发射光谱法测定汽油中的氯和硅》列入了计划。但我国国家标准与石油化工行业标准中均无汽油中硅含量的测定方法。然而，在汽油的实际
一批ICP、ICPms应用方法国标将制定
分析测试百科网讯 近日，国家标准委公布了第三批国家标准制修订计划，其中含多项ICP、ICP-MS应用方法国标，比如“氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第1部分：微量元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法”、“镍化学分析方法 第X部分：铜、铁、钴、铅、锌、镉、锰、镁、铝、砷、锑、铋、锡
ICPAES法稀土总量测定等国标通过鉴定
日前，由全国稀土标准化技术委员会组织召开的三个国家稀土检测标准鉴定会在厦门举行。鉴定组专家对包头检验检疫局参与制定的这三个标准进行了严格的评审。通过深入细致的核查、分析、讨论和研究，对其作出了肯定而满意的结论。 这三个标准是：GB/T16477.X-200X(代替GB/T16477.3-1
SEM结构
结构1．镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。2．电子信号的收集与处理系统在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子
SEM特点
特点（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍
标准委发布236项重要国家标准－涉及ICPAES、FAAS、SEM等
近日，市场监管总局（标准委）批准发布236项重要国家标准，涉及分光光度、电感耦合等离子体原子发射光谱、电感耦合等离子体质谱、火焰原子吸收光谱、扫描电镜测定、红外热成像检测、火花放电原子发射光谱卫生防护等分析方法，涵盖了健康安全、绿色可持续发展等诸多领域。以下为摘要：标准编号中文名称发布日期实施日
ICPMS/LCMS等性能测定方法国标将制定
2015年12月10日，全国仪器分析测试标准化技术委员会（SAC/TC481）二届二次年会在北京召开。 技术委员会主任委员张玉奎院士，副主任委员柴之芳院士、王海舟院士、中国计量院副院长房庆、中国分析测试协会秘书长张渝英出席会议。国标委工业二部、科技
ICPOES酶标仪法与国标法测定土壤全磷的比较
磷元素（P）是植物生长发育的必需营养元素，它以多种方式参与土壤系统内的各种代谢过程，为不可再生的矿质资源，是评价土壤质量的重要指标之一 [1-3]。传统国标方法采用钼锑抗紫外可见分光光度计法检测，存在样品pH、温度、显色时间、仪器无自动进样器等因素影响，对分析大量样品操作较复杂，耗时且工作量大[4-
2015第二批国标制修订亮点：ICP领衔原子光谱
分析测试百科网讯 近日，国家标准化管理委员会发布了2015年第二批标准制修订计划公示，公开征求意见。本次共公示729项标准的制修订计划。 原子光谱法以ICP为主 本次国家标准制修订计划中，共涉及到46项化学测试方法的制修订，其中新制订国标为30项。 涉及到大型仪器的化学
SEM相关应用
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： 1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。2、材料断口的分析：其景深大，图象富立体感，具有三维形
SEM工作程序
工作程序（1）开启试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT），将试样放入试样室后将试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT）关闭抽真空。（2）开启镜筒真空隔阀。（3）加高压（ACCELERATION POTENTIAL）至25KV.（4）加灯丝电流（FILAMENT）至7.5-8.（5）调节显示
SEM灯丝选择
01.电子源大小电子源大小为电子枪发射出电子后经韦氏帽汇聚后所形成的电子束斑，六硼化镧和六硼化铈灯丝明显小于钨灯丝，更有利于经过聚光镜和物镜汇聚后形成更小的电子束斑，从而得到更好的分辨率； 02.亮度亮度为灯丝单位面积内的电子流强度，亮度越高，越有利于得到更充足的信号，提高图片的信噪比和清晰度。六硼
SEM关机程序
关机程序（1）关灯丝电流（FILAMENT）。（2）关高压（ACCELERATION POTENTIAL）。（3）反时针调节显示器对比度（CONTRAST）、亮度（BRIGHTNESS）到底.（4）关闭镜筒真空隔阀。（5）关主机电源开关。（6）关真空开关。（7）20分钟后，关循环水和电子交流稳压器开
SEM真空系统
SEM真空系统 不同的灯丝，SEM真空系统的设计有所不同。在钨灯丝系统中，灯丝的真空度受到运行状态影响。例如，每次加载或卸载样品时，都会有空气进入真空柱，影响灯丝的使用寿命。观察不导电样品时，通常需要低真空，也会缩短灯丝寿命。对于CeB6系统，比如飞纳电镜，内置涡轮分子泵，采用分级真空系统，通过压差
SEM放大倍数
放大倍数扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学
SEM景－深
景 深景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
SEM解决方案
解决方案 随着用户数量的增长，phenom飞纳电镜不同的应用也在增长。除了纳米纤维，其他方面的应用案例如下： 1. 活体实验之后的药物释放系统成像2. 反应物颗粒形貌3. 摩擦和划痕测试-包含残渣水平-关于涂层、合成树脂和玻璃4. 处理和应用对于Dyneema纱线和胶带形貌的影响5. 复合材料内部填
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
SEM相关应用二
6、在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。 7、进行从高倍到低倍的连续观察：扫描电镜的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析
SEM图像分析软件
SEM图片是电子扫面的图片，把微观世界放大到几千甚至上万倍，这个图片是需要你结合自身的知识背景加以专业的判断才能得出的结论的，而不是有什么软件会告诉你什么图片能说明啥。
sem如何调清晰
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是要看你的技术咯，电子束对中，像散调节，wobble，最后就是f
国标委发布2018第三批标准制修订计划－涉及ICP－AAS－GC－LC
分析测试百科网讯 9月28日，国家标准化管理委员会发布了2018年第三批国家标准修订计划的通知。本批计划共计579项，其中制定418项，修订161项；强制性标准1项，推荐性标准576项，指导性文件2项。 第三批国家标准修订计划包含了电感耦合等离子体质谱法、电感耦合等离子体发射光谱法、火焰原子吸
SEM与TEM的区别
一、性质不同1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。二、原理不同1、TEM（1）吸收像：当电子被发射到高质量和高密度的样品时，主要的相位形
sem样品要求有哪些
描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到3
sem主要用于观察？
46个知识点扫盲 1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关：
TEM和SEM的区别：
TEM和SEM的区别：当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或
SEM样品破坏的原因
样品破坏的原因 样品的破坏与加速电压有关，灯丝产生的电子可以与样品原子中的电子相互作用。如果样品中的价电子（可以参与形成化学键的电子）碰巧从原子中被激发，它将留下一个电子空位。该电子空位必须在100飞秒内被另一个电子填充，否则化学键将被破坏。 在导电材料中，这不是问题，因为电子空位填充在1飞秒（fs
TEM和SEM的区别
当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。 SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定