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楼主的问题，关键不是从看相机信息来判断图的出处（万一原图被调用另存或剪切之类的）。我建议用看图软件打开此图，放大合适尺寸，然后看主体及其周边的图像细节。如果是扫描的话（大都是CMOS成像），会有明显的层次（如果是实物扫描，接近扫描面的最清楚，远离扫描平面的效果最差；如果是平面扫描，图片细节普遍模糊）。但相机拍的照片（是CCD成像），相对比较清晰，不过低档机在拍摄过程容易出现抖动模糊（尤其在高光变模式下）。对于手机拍的照片，应该很容易辨别出来的。......阅读全文
AFM扫描式：因为其结构相对简单，所以也就更加稳定，其分辨率自然也就比针尖扫描式的更高一些。其缺点就是由于样品腔的限制，只能容纳一定尺寸的样品，另外样品扫描器负载的限制，不能扫描太重的样品，所以对于一些大样品也就无能为力了。样品扫描式的扫描器一般都可以更换，可以根据不同的需要选择不同的扫描器。针尖扫
扫描探针显微镜和扫描方法，其能减小或避免因探针尖与样品碰撞而造成的损害，缩短测量时间，提高生产力和测量精确度，不受粘附水层的影响收集样品表面的观测数据，如形貌数据。显微镜具有振动探针尖的振动单元、探针尖与样品表面接近或接触时收集观测数据的观测单元、探针尖与样品表面接近或接触时检测探针尖振动状态变化的
曝光时，先将单元图形分割成场，工件台停止时电子束在扫描场内逐个对单元图形进行扫描，并以矢量方式从一个单元图形移到另一个单元图形；完成一个扫描场描绘后，移动工件台再进行第二个场的描绘，直到完成全部表面图形的描绘。 由于只对需曝光的图形进行扫描，没有图形部分快速移动，故扫描速度较高。同时为了提高速
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
在操作时间方面，照相机成像最快，逐行扫描仪需数秒或者几十秒，而传统薄层扫描仪通常要几分钟。 数码成像分析的唯一不足在于只能使用白光、254nm、365nm和312nm等特定光源，而数码成像的显著优势是价格，比传统薄层扫描仪低得多。 CAMAG TLC SCANNER 3 薄层色谱扫描仪是卡玛
扫描模块主要由针孔光栏（控制光学切片的厚度）、分光镜（按波长改变光线传播方向）、发射荧光分色器（选择一定波长范围的光进行检测）、检测器（光电倍增管）组成。荧光样品中的混合荧光进入扫描器，经过检测针孔光栏、分光镜和分色器选择后，被分成各单色荧光，分别在不同的荧光通道进行检测并形成相应的共焦图象，同
接触式扫描 接触式三维扫描仪透过实际触碰物体表面的方式计算深度，如座标测量机（CMM, Coordinate Measuring Machine）即典型的接触式三维扫描仪。此方法相当精确，常被用于工程制造产业，然而因其在扫描过程中必须接触物体，待测物有遭到探针破坏损毁之可能，因此不适用于高价值