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一、质谱图的概念Mass spectrum质谱图 不同质荷比的离子经质量分析器分开后，到检测器被检测并记录下来，经计算机处理后以质谱图的形式表示出来。 在质谱图中，横坐标表示离子的质荷比（m/z）值，从左到右质荷比的值增大，对于带有单电荷的离子，横坐标表示的数值即为离子的质量；纵坐标表示离子流的强度，通常用相对强度来表示，即把最强的离子流强度定为100%，其它离子流的强度以其百分数表示，有时也以所有被记录离子的总离子流强度作为100%，各种离子以其所占的百分数来表示。编辑本段二、质谱中主要离子峰 从有机化合物的质谱图中可以看到许多离子峰.这些峰的m/z和相对强度取决于分子结构,并与仪器类型,实验条件有关.质谱中主要的离子峰有分子离子峰,碎片离子峰,同位素离子峰,重拍离子峰及亚稳离子峰等.正是这些离子峰给出了丰富的质朴信息,为质谱分析法提供依据.下面对这些离子峰进行简要介绍.(一)分子离子峰 分子受电子束轰击后失去一个电......阅读全文
质谱法是将被测物质离子化，按离子的质荷比分离，测量各种离子谱峰的强度而实现分析目的的一种分析方法。质量是物质的固有特征之一，不同的物质有不同的质量谱——质谱，利用这一性质，可以进行定性分析（包括分子质量和相关结构信息）；谱峰强度也与它代表的化合物含量有关，可以用于定量分析。质谱仪一般由四部分组成：进
质谱法是将被测物质离子化，按离子的质荷比分离，测量各种离子谱峰的强度而实现分析目的的一种分析方法。质量是物质的固有特征之一，不同的物质有不同的质量谱——质谱，利用这一性质，可以进行定性分析（包括分子质量和相关结构信息）；谱峰强度也与它代表的化合物含量有关，可以用于定量分析。 质谱仪一般由四部分组成：
质谱法是将被测物质离子化，按离子的质荷比分离，测量各种离子谱峰的强度而实现分析目的的一种分析方法。质量是物质的固有特征之一，不同的物质有不同的质量谱——质谱，利用这一性质，可以进行定性分析（包括分子质量和相关结构信息）；谱峰强度也与它代表的化合物含量有关，可以用于定量分析。 质谱仪一般由四部分
最先看分子离子峰。怎么判断分子离子峰？一般是最大的明显可见碎片。如果有已经结构就好办，如果没有，一般判断出分子离子峰之后，要进行确认。确认的办法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多数减15，也有减18或43，这样看具体情况。如果有这样的碎片就认为是分子离子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰
用二维方法来看.1,横坐标代表的是分子离子峰及碎片峰,这有助于你判断物质的分子量及可能的主要结构.2,纵坐标代表的是分子碎片的稳定程度,这有助于你判断碎片相近的物质区分,比如可以通过质谱图直接判断二甲苯的三种构型,就是利用这个方法.3,结合二者的各自优势,再多学多比较记住几个特征峰就好办多了,比如烯
做质谱图是要用高能粒子轰击待测化合物，那么出现分子被轰走一个电子时最容易（轰断化学键当然难些），那么质谱仪测出质荷比m/q最大时得到的谱线对应的数值即是待测化合物的相对分子质量。
质谱图由横坐标、纵坐标和棒线组成。横坐标标明离子质荷比(m/z)的数值，纵坐标标明各峰的相对强度，
最先看分子离子峰。怎么判断分子离子峰？一般是最大的明显可见碎片。如果有已经结构就好办，如果没有，一般判断出分子离子峰之后，要进行确认。确认的办法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多数减15，也有减18或43，这样看具体情况。如果有这样的碎片就认为是分子离子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰
ICP-MS的图谱非常简单，容易解析和解释。但是也不可避免地存在相应的干扰问题，主要包括质谱干扰和基体效应两大类。9.3.3.1 质谱干扰当等离子体中离子种类与分析物离子具有相同的质荷比，即产生质谱干扰。质谱干扰主要有四种，即同量异位素干扰、多原子(或加合物)离子干扰、难熔氧化物离子干扰和双电荷离子
1、质谱就是真空中,利用电子束轰击待测化学物质的分子,将该分子打散,打成一个一个的带电荷的分子离子片段,再根据质谱仪上各个分子离子片段的出峰位置和强度,最终显示出各个离子的分子量以及相应浓度。2、看质谱图,只要看特征峰就好了,不要每个峰都知道是什么,只有自己想要的峰。化学物质的分子中,单纯依靠质谱来