高速微型光谱仪

关键技术

全谱段技术  采用专利的EX可变闪耀光栅和渐变消高阶滤光片技术，解决了宽谱段效率均衡与高阶干扰的问题，zei宽谱段覆盖范围达200~1100nm。

高速光谱传输技术  使用高速CCD和高速处理芯片及算法，实现微妙量级光谱检测。

低杂散光技术  低杂散光技术能够有效地降低光谱仪内部的杂散光，内部喷涂航天级高吸光材料,有效抑制杂散光形成。

紫外敏化技术  选择特殊高稳定荧光物质进行CCD紫外敏化镀膜,在较低成本下实现了深紫外光谱探测。

超轻便技术  独特的光路设计和内部空间布局,为同类产品厚度之zei薄,同时,也保持了优异的光学性能。

　　1、具有高速控制技术，能在1 ms 内设定新的积分时间

　　2、具有标志位技术，上位机可随时查询采谱完成状态

　　3、探测范围覆盖200~1100 nm 全谱段，即全谱段技术

　　4、提供zei高 0.19 nm 光学分辨率

　　5、拥有1300:1 的动态范围和260:1 的信噪比

　　6、支持3种外触发模式

　　7、尺寸小，重量轻，即超轻便设计

　　8、拥有 72.5 mm 焦距，即长焦光学设计

　　9、提供2种完备的底层调用技术，包括USB指令集和Morpho-Driver 二次开发包(SDK)

探测器（典型值）

项目 值 名称 Sony ILX554B linear Si CCD array 探测范围 200~1100 nm 像素数量 2048 pixels 像素大小 14 x 56 μm2

光谱仪

项目 值 尺寸（mm） 128 x 90 x 27 重量（g） 410 光学分辨率 0.25~10.00 nm, FWHM 信噪比 260:1 A/D位数 16 bits 暗噪声 50 RMS 动态范围 1300:1 积分时间 1 ms~60 s 杂散光 26 @ 600 nm 矫正线性度 ＞ 99%

电学特性