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2018年北京质谱年会厂商邀请函

为了加强学术交流,了解质谱新技术和交叉学科的最新进展,推进质谱技术及其色谱与质谱联用技术在分析科学中的发展与应用,北京理化分析测试技术学会北京质谱学会将于2018年03月30日-31日,在北京蟹岛会议中心召开“2018年度北京质谱年会”。 本次会议主题“生命与健康”,会议将邀请院士和质谱知名专家作质谱技术前沿与应用新进展、知名厂家新仪器、新技术进展等报告,还将以沙龙形式进行专家与青年学子的自由学术讨论及经验交流,不同交叉学科间的沟通与交流等。此外,特别安排技术及应用培训。 会期两天,欢迎质谱厂商积极参与!现将有关事宜通知如下:一、组织委员会 再帕尔•阿不力孜,钱小红,张新荣,李重九,李智立,刘虎威,刘丽萍,乔善义,肖宏展,熊少祥,徐建中,杨福全,陈大舟,崔建勇,郭春华,胡净宇,纪建国,李 冰,周抗寒,王京宇,王 军,聂宗秀,徐友瑄,汪福意,张 岚,秦伟捷,胡 蓓,江 骥,彭 涛 (注:排名无先后顺序)二、组织委员会 ......阅读全文

Agilent金牌赞助2009年中国有机质谱年会

  创新与突破   安捷伦科技公司金牌赞助2009年中国有机质谱年会   在我国质谱分析事业迅速发展的形势下,为了更好配合并增进质谱工作者间的学术交流,及为广大质谱爱好者提供更多的最新质谱技术资讯,2009年11月7-9日, 在刚刚于北京召开的中国有机质谱年会上,安捷伦科技公司作为大会的金牌赞助

赛默飞世尔科技赞助第31届质谱学会年会开幕式晚宴

  2011年8月6日,2011年第31届中国质谱学会年会在西安未央湖大酒店隆重召开。赛默飞世尔科技作为此届大会的钻石赞助商,在大会召开当晚赞助了晚宴,并为近450位与会代表精心准备了丰富多彩的歌舞、魔术、杂技等文艺表演。晚宴现场赛默飞世尔科技公司应用工程师 James

关注质谱与生命科学,看2019北京质谱年会

  分析测试百科网讯 2019年3月29日,2019年北京质谱年会在中国科学院大学(雁栖湖校区)隆重举行。本次会议主题为“质谱与生命科学”,邀请了活跃在我国的青年专家知名专家作质谱前沿技术与应用新进展报告。本次年会由北京理化分析测试技术学会北京质谱学会主办,北京质谱中心承办。会议共有400余人出席,

AB Sciex赞助参加CPSA 2011上海年会

  第二届CPSA年会于2011年4月14日在上海淳大万丽酒店顺利召开,AB Sciex 公司赞助并参加了本次年会,4月14日中午AB Sciex的资深应用工程师们在酒店的Danube 宴会厅为大家带来一场精彩的AB Sciex产品应用实例报告会。 AB Sciex 公司展

2009年北京质谱年会通知

  为了更好的总结及交流质谱技术以及色谱与质谱联用技术在分析科学中的发展及应用进展,北京理化分析测试技术学会北京质谱学会将于2009年4月 24日-25日,在昌平虎峪山庄召开“2009年北京质谱年会”。本次年会将邀请质谱专家做大会报告交流其研究成果及应用经验,邀请质谱知名厂家做新技术进展。此外,还特

质谱学会年会大会报告(一)

      第31届中国质谱学会年会的开幕式结束后,开始了大会报告,本文是第一批大会报告。国家食品药品监督管理局食品安全监管司的徐景和司长做了题为“食品安全形势与治理创新”的报告;中国质谱学会理事长李金英研究员做了题为“日本核事故的影响分析”的报告;质谱学报编辑部做了“《质谱学报》这三年”

质谱学会年会大会报告(二)

西北核技术研究所 王勇老师   来自西北核技术研究所的王勇老师为大家介绍了《应用物理》期刊的相关情况。    近年来我国在应用物理研究领域取得了巨大的成就,每年产生了大量新知识、新技术、新方法,其知识总量已经跃居世界前列。但目前该领域的研究成果大部分分 散在各有关

2015北京质谱年会成功举办

  分析测试百科网讯 2015年度北京质谱年会于2015年3月27~28日在北京怀柔中国科学院大学国际会议中心召开。来自各大科研机构、院校、厂商的科研工作者们近300人参加。来自中国工程院的詹启敏院士、清华大学化学系的张四纯教授、北京大学生命科学院的纪建国教授、北京理工大学生命学院的徐伟教

2011年北京质谱年会隆重召开

  2012年3月30-31日,北京理化分析测试技术学会北京质谱学会举办的“2011年度北京质谱年会”在北京外研社国际会议中心隆重召开。来自科研院所、检测机构、仪器厂商等五百余位质谱界专家学者、实验室人员、技术工程师等参加了本次年会,共同探讨了质谱技

2010年北京质谱年会隆重召开

东华理工大学 陈焕文教授   来自东华理工大学的陈焕文教授做了题为《表面解吸常压化学电离质谱技术及其成像研究》的报告。2004年,美国普渡大学Cooks教授等人在无需进行样品预处理的情况下,利用电喷雾解吸电离(DESI)技术,在常压下对固体表面上痕量待测物直接离子化,成功地获得了不同表面上