衰减全反射——傅里叶变换红外光谱技术的发展及应用
摘要: 本文介绍了衰减全反射——傅里叶变换红外光谱技术的发展概况、基本理论、技术特点、新型附件及其应用。红外光谱是化合物结构定性分析的主要手段之一, 其常规分析方法很多, 有压片法、涂膜法、漫反射法等。但对一些特殊样品, 如难溶、难熔、难粉碎等的试样(如合成树脂、橡胶、塑料、纤维、珍珠、翡翠、织物、胶囊等) 就很难直接测得红外光谱。采用衰减全反射(A TR ) 分析就可以方便地克服这些困难。该方法应用范围广泛、制样简单、无需前处理、不破坏样品就可以直接进行红外分析, 所测得的红外光谱与透射光谱的谱带位置、形状完全一致, 不存在干涉条纹, 特征谱带清晰[ 1 ]。点击这里进入下载页面：进入下载页面......阅读全文
衰减全反射光谱的原理
红外光谱是分析化合物结构的重要手段。常规的透射法使用压片或涂膜进行测量，对某些特殊样品( 如难溶、难熔、难粉碎等的试样) 的测试存在困难。为克服其不足，20世纪60年代初出现了衰减全反射(Attenuated Total Refraction,ATR) 红外附件，但由于受当时色散型红外光谱仪性能的限
全反射傅里叶变换红外(ATR-FTIR ) 光谱仪的衰减全反射特点
1) 不破坏样品, 不需要象透射红外光谱那样要将样品进行分离和制样。对样品的大小, 形状没有特殊要求, 属于样品表面无损测量。 2) 可测量含水和潮湿的样品。 3) 检测灵敏度高, 测量区域小, 检测点可为数微米。 4) 能得到测量位置处物质分子的结构信息、某化合物或官能团空间分布的红外光
傅里叶红外光谱仪ATR衰减全反射法
ATR衰减全反射法常规的透射光谱可用压片或液体池法进行测量，但是对于某些特殊样品，难熔、难溶及难粉碎的试样（如塑料聚合物、橡胶等），透射光谱存在制样困难的问题。衰减全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）红外附件可以完美的解决这些问题。它具有制样简单、无破坏性、检测灵
全反射的定义
光由相对光密介质射向相对光疏介质，且入射角大于等于临界角C，即可发生全反射。临界角即使折射角等于90°时的入射角。根据折射定律， 。因为空气的折射率n=1,所以由某介质向空气入射则简化为n=1/sinC.
光纤衰减器衰减光纤技术简介
衰减光纤技术 根据金属离子对光有吸收作用，研制出参杂金属离子的衰减光纤，与普通光纤每公里有衰减系数一样，这种衰减光纤也有固定的衰减系数，只不过这种衰减系数不按公里计算，而是按照毫米计算。将衰减光纤穿入陶瓷插芯?经过特殊工艺处理?可以制成阴阳式的固定衰减器。
衰减片型光衰减和步进式双轮可变光衰减器
衰减片型光衰减器 衰减片型光衰减器直接将具有吸收特性的衰减片,固定在光路中来达到衰减光信号目的。衰减片采用吸收型玻璃片或在玻璃基片上镀吸收膜的方法来制作。衰减片型光衰减器可分为步进式双轮可变光衰减器和连续可变衰减器。 步进式双轮可变光衰减器 步进式双轮可变光衰减器的结构如图1所示。采用准直
薄膜型光衰减器和衰减片型光衰减器的简介
薄膜型光衰减器 这种衰减器利用光在金属薄膜表面的反射光强与薄膜厚度有关的原理制成。如果玻璃衬底上蒸镀的金属薄膜的厚度固定，就制成固定光衰减器。如果在光纤中斜向插入蒸镀有不同厚度的一系列圆盘型金属薄腊的玻璃衬底，使光路中插入不同厚度的金属薄膜，就能改变反射光的强度，即可得到不同的衰减量，制成可变
位移型光衰减器的衰减原理简介
光衰减器是一种非常重要的纤维光学无源器件，是光纤CATV中的一个不可缺少的器件。到目前为止市场上已经形成了固定式、步进可调式、连续可调式及智能型光衰减器四种系列。 衰减器的衰减原理。光衰减器的类型很多，不同类型的衰减器分别采用不同的工作原理。 位移型光衰减器。 众所周知，当两段光纤进行
衰减器简介
衰减器是在指定的频率范围内，一种用以引入一预定衰减的电路。一般以所引入衰减的分贝数及其特性阻抗的欧姆数来标明。在有线电视系统里广泛使用衰减器以便满足多端口对电平的要求。如放大器的输入端、输出端电平的控制、分支衰减量的控制。衰减器有无源衰减器和有源衰减器两种。有源衰减器与其他热敏元件相配合组成可变
功率衰减器
在通信系统中，比如发射机的测试，可能发射的功率等级会从几瓦到几百瓦甚至上千瓦，这么大的功率信号必须经过衰减才可以连接到大部分的测试设备中，否则会对设备造成损害。衰减器的作用就是用来减小信号的幅度，而且有些衰减器还可以对阻抗值进行变换。比如车载电台的功率可能是 50w、100w 或者 150