2013年全国无机及同位素质谱学学术会议分会报告（二）
2013年11月23日，由中国质谱学会无机质谱、同位素质谱和仪器与教育业委员会联合承办，江苏天瑞仪器协办的2013年全国无机及同位素质谱学学术会议在江苏昆山隆重召开，来自全国高等学校，科研机构和企业的200余位从事质谱工作的专家学者参加了大会。 大会第二天同期举行两场分会专题报告，针对无机质谱、同位素质谱和质谱仪器与教育的最新研究成果及应用进行了深入的探讨。 24日，第二分会场的分会报告由来自复旦大学化学系的丁传凡教授、江苏天瑞仪器股份有限公司的周立博士、东华理工大学董晓峰同学、哈尔滨工业大学赵占峰博士、东华理工大学黄龙珠同学、西北核技术研究所韦冠一老师、 中国科学院地球环境研究所贺茂勇博士、中国地质科学院地质研究所杨之青老师、上海大学程平教授、厦门大学机电工程系何坚教授、哈尔滨工业大学周志权教授为大家带来精彩的分会报告。 复旦大学化学系 丁传凡教授 首先，来自复旦大学化学系的丁传......阅读全文
无机质谱与同位素质谱有什么不同
同位素质谱包括无机质谱。无机质谱主要检测的是单个同位素的信号强度。比如测40Ar，88Sr等而有机化学里用到的质谱主要检测的是原子聚合体，如CO2等
2013全国无机质谱、同位素质谱、质谱仪器交流会筹备会议
2013年9月9日，在北京师范大学召开了今年11月22日—24日将在江苏昆山举办的“2013年全国无机质谱、同位素质谱、质谱仪器与教育委员会学术交流会”筹备会。出席会议的有李金英理事长、谢孟峡副秘书长、肖国平副秘书长、张东翔副秘书长、陈焕文仪器与教育专业组主任、李冰无机质谱专业组主任
2013全国无机质谱、同位素质谱、质谱仪器交流会筹备会议
2013年9月9日，在北京师范大学召开了今年11月22日—24日将在江苏昆山举办的“2013年全国无机质谱、同位素质谱、质谱仪器与教育委员会学术交流会”筹备会。出席会议的有李金英理事长、谢孟峡副秘书长、肖国平副秘书长、张东翔副秘书长、陈焕文仪器与教育专业组主任、李冰无机质谱专业组主任
质谱图中同位素峰丢失问题
a. 质谱仪的质量标尺校准不精确，排除方法是重新校准质谱仪的质量标尺;b. 质谱仪调谐未达到最佳状态，排除方法是重新调谐质谱仪;c. 离子源被污染，排除方法是对离子源依次用甲醇、丙酮超声清洗各15min;d. 检侧器电压太低，排除方法是提高检侧器电压;e.检侧器故障，排除方法是检查检侧器的灵敏度。
ICP-MS 的干扰——质谱干扰
质谱干扰 ICP-MS中质谱的干扰（同量异位素干扰）是预知的，而且其数量少于300个，分辨率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辨开，例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰（质谱叠加）。元素校正方程式（与ICP-AES中干扰谱线校正相
质谱分析法术语--同位素质谱
同位素质谱（isotope mass spectrum）按元素的同位素质量排序的质谱。
质谱中，同位素丰度如何计算
对于含有Cl,Br等同位素天然丰度较高的化合物，其同位素离子峰相对强度(丰度)可由(a+b)的n次方展开式计算，其中a、b分别为该元素轻重同位素的相对丰度，n为分子中该元素的原子个数。CH3Cl：a=3,b=1,n=1,(3+1)1=3+1m/z50(M):52(M+2)=3:1CH2Cl2：a=3
质谱中，同位素丰度如何计算？
对于含有Cl,Br等同位素天然丰度较高的化合物，其同位素离子峰相对强度(丰度)可由(a+b)的n次方展开式计算，其中a、b分别为该元素轻重同位素的相对丰度，n为分子中该元素的原子个数。CH3Cl：a=3,b=1,n=1,(3+1)1=3+1m/z50(M):52(M+2)=3:1CH2Cl2：a=3
液相色谱-同位素比质谱概述
1、液相色谱-同位素比质谱发展历史 1993年美国Caimi和Brenna两位学者最早开发了LC与IRMS联用仪器设备, 他们设计出了用可移动金属丝装置去除溶剂和燃烧目标分析物的LCM-2接口设备。其工作原理是液相色谱的流出组分首先通过Cu和Pt涂层的移动金属丝, 在150 ℃干燥室作用下,
实验室分析仪器--ICP质谱固体样品的引入
固态样品直接分析是传统光谱分析(直流电弧及波形控制火花发射光谱)中最简单的样品引入方法，同时也是火花源质谱痕量分析中传统的制样方法。 固态样品制样简单，进样前通常只需经过研磨、混匀、预制样或者抛光处理。直接进行痕量分析，将样品污染减至最小，避免化学溶解过程中造成的挥发性损失。通常情况下，液态样品引入