哈工大专家发现高效去除AFM探针表面污染物新方法

　　美国材料研究学会（MRS）官方网站日前在“材料研究当前新闻”栏目中，以《光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖》为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯合作发表在国际学术期刊《超显微术》（Ultramicroscopy）上的原创性研究成果。

　　该报道称：“清洁原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现，具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械清除AFM探针上的污染物，这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物，而且可实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外，该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针，也可以用来清洁标准AFM针尖。”

　　甘阳认为，作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法，该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针，更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛应用。

　　这篇论文在爱思唯尔（Elsevier）出版社2009年第三季度的“25篇最热门论文”中列《超显微术》的第一位。《超显微术》是Elsevier出版的显微研究领域的国际著名期刊。