快速区分单层与多层石墨烯
nanphoton石墨烯案例
激光源：532nm。
物镜：100X，NA=0.9。
光谱数：67，600（400*169）。
测量时间：5分30秒。
通过高速高分辨拉曼成像技术，可以对不同层数的石墨烯快速成像。
以350纳米的高空间分辨率，仅用5分钟的测量时间即可识别从单层到四层的石墨烯及其分布。[1]
材料应力分布
nanphoton应力分布案例
图像分辨率：320(x)×400(y)=128,000 Spectra。
成像时间：16分钟。
通过高速高分辨拉曼成像技术，可以探测到晶体结构的扭曲，如硅材料等。硅的Raman峰位于520cm。硅单晶中由于应力的作用，会造成晶格结构的偏离与扭曲。右图通过测量Raman峰的偏离，进而给出了硅单晶表面应力的分布。[2]
无损伤材料组分剖面分析
nanphoton无损剖面分析案例
图像分辨率：300(x)×120(z)=36,000 Spectra。
成像时间：8 分钟。
右图是通过高速高分辨拉曼成像技术的无损探测技术，对多层膜进行的深度剖析。通过联用共聚焦光学系统与面扫描技术，可以成功地探测到深度图像。[3]
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