冷场发射扫描电镜应用技术研讨会在京召开分析测试百科网wiki版

发布时间：2016-09-23 16:59 原文链接：冷场发射扫描电镜应用技术研讨会在京召开

　　分析测试百科网讯 2016年9月22日，“冷场发射扫描电镜最新应用技术研讨会”在北京文津酒店召开。此次会议由天美（控股）有限公司、日立高新技术公司主办，布鲁克科技有限公司协办，国家纳米科学中心支持。本次会议有50余名国内外专家学者齐聚一堂，相互交流。

冷场发射扫描电镜最新应用技术研讨会现场

日立高新北京分公司总经理加藤博司

　　作为本次大会的主办单位，日立高新北京分公司总经理加藤博司首先上台并致辞，欢迎来自全国各地的专家学者参加本次技术研讨会。

天美公司副总裁赵薇

　　天美公司副总裁赵薇随后致辞并回顾了天美公司的发展历程，简述现阶段的发展状况，并展望了未来的使命。天美将致力于制造出中国最好的科学仪器，同时把最先进的科学仪器和技术引入中国，立足中国成为世界一流的专业科学仪器供应商。

国家纳米科学技术中心发展部常务副主任范伟民教授

　　国家纳米科学技术中心发展部常务副主任范伟民教授简短致辞。

日立高新电镜主管工程师罗琴

日立高新SU8220主机

　　日立高新电镜主管工程师罗琴发布了题为“日立高端冷场扫描电镜SU8200介绍及应用”的报告，详细阐述了冷场扫描电镜SU8200的特性及实际应用。SU8200特有的能量过滤器可检测极其浅层的表面信号，大大增强表面分辨率，其采用的日立高新技术公司全新开发的冷场电子枪，可在实现超高分辨率下观察的同时，以稳定的束流满足长时间下的分析需求。

天美公司电镜市场部经理高敞

　　天美公司电镜市场部经理高敞在会上介绍了日立离子研磨器IM4000。离子研磨器IM4000使用氩离子对样品进行截面切割和研磨，便于进行高分辨率成像，且具有无应力、无污染、高效率的特点。

日立高新电镜应用工程师席小宁

　　日立高新电镜应用工程师席小宁对日立原子力AFM5500M进行了介绍。该产品具有参数自动调整功能、探针自动更换功能，无需人工调整，提高了自动化程度；高精度水平扫描器提高了测定精度；此外该产品还与日立高新的扫描电镜通过共享坐标的方式，实现了观察同一样品上相同位置功能，方便用户使用不同仪器操作。

布鲁克公司技术应用专家王慧敏

　　布鲁克公司技术应用专家王慧敏为大家介绍了布鲁克平插能谱仪对低电压低束流能谱分析的解决方案。FlatQUAD平插式能谱仪不同于传统的斜插式能谱仪，该能谱仪将探头水平放置，并通过采用多探测器系统增加能谱仪的采集效率；在保留高能量分辨率的同时使低电压下定性定量更加准确，在分析敏感样品及超薄样品时具有更好的表现。