发布时间:2018-04-08 14:48 原文链接: 透射电镜(TEM)样品制备原则及要求

TEM制样原则:

a.简单。

b.不破坏样品表面,如:避免磨样过程中产生的位错及离子减薄过程中产生的非晶现象等。

c.尽可能获得大的薄区。

TEM样品要求:

a.对电子束透明(电子束穿透固体样品的厚度主要取决于:加速电压和样品原子序数)。

b.固体、干燥、无油、无磁性。


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