椭偏仪1是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于厚度和折光率测量精度高,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。利用椭偏仪来测量薄膜的过程就是椭偏仪测量。
分析测试百科网讯近日,HORIBA公司宣布推出新的模块化椭偏仪——UviselPlus,旨在提高薄膜测量的灵活性。该设备配备了尖端的FastAcq采集技术,利用新的电子数据处理和高速单色仪,可以在三分......
光偏振现象的应用在日常生活中无处不在,比如液晶显示屏、3D眼镜等;在光伏、纳米、半导体芯片等高端制造中,也常用到一种利用光偏振现象的仪器,那就是椭偏仪,它最拿手的就是测量纳米级薄膜的厚度、折射率、消光......