牛津CypherES高分子版原子力显微镜

牛津Cypher ES 高分子版原子力显微镜
牛津仪器/美国AsylumResearch公司
牛津仪器

为了满足高分子领域的研究员对AFM快速高分辨的扫描以及定量的纳米力学性能测试等方面日益增长的需求，牛津仪器Asylum Research发布 Cypher™ ES 高分子版原子力显微镜。新一代Cypher™ ES 高分子版原子力显微镜针对高分子领域的研究进行了优化，能够提供极高分辨率的成像，快速扫描，精确的温控以及相当全面的纳米力学表征模式。Cypher™ ES 高分子版是众多高分子和材料科学应用领域的理想工具，例如，表面形貌成像，测量力曲线，纳米力学成像，热学性能测试，观测溶液以及热作用下的动力学过程，探测电学和功能行为特性。并且在目前特定的时间段内，Cypher ES高分子版将享有非常优惠的价格和超短的发货周期。

 

销售总监John Grenn说：“Asylum Research创新性的纳米力学扫描模式和环境控制能力使得Cypher ES高分子版能够满足高分子领域研究者的特别需求。Asylum Research是唯一能够提供高分辨的成像和对材料粘弹性进行定量成像的原子力显微镜生产商。聚合物本质上都有明显的粘弹性，因此这对聚合物的科学家来说是一项必需的功能。利用Cypher ES聚合物版原子力显微镜，聚合物研究者如今可以在一个系统中利用多种强大的工具进行高效地操作，获得定量的数据和相关结果。

 

Cypher ES Polymer 聚合物版包括三种独有的纳米力学表征技术。两种AFM技术，AM-FM和接触共振粘弹性成像技术能够高分辨并且定量的对弹性模量和粘弹性响应（也就是损耗模量和损耗因子等）。第三种技术 ，快速力谱成像技术，能够进行定量的高速弹性模量成像。与其它的力谱技术不同，Asylum的快速力谱成像技术记录成像过程中的每一条力曲线，测量形变型号和Z闭环传感器的信号，其不但支持常规的缩进模型，例如 Hertz, Sneddon 以及DMT等力学模型，而且还支持更多先进的力学模型，包括JKR 以及Oliver-Pharr。 

 

此外， Cypher ES 聚合物版提供结合环境控制的极高分辨率的快速扫描。系统中包含一个全密封的高温样品加热台，与系统无缝对接，不需要任何外加的线缆、管道以及控制器等。利用该加热台能够在室温至250°C范围内无干扰的探测聚合物的相转变过程。zei终，该系统还包括Asylum 独有的blueDrive光热激发模块，其能够让轻敲模式更简单，更稳定和更准确。 

对AFM在聚合物中应用感兴趣的研究者可以从网站上找到众多的应用手册，研讨会以及实际的样品成像资料等：www.oxford-instruments.com/afm-polymers 

 

以下图像为：从室温加热到135°C，冷却之后Cypher ES 聚合物版AFM 对syndiotactic polypropylene (sPP) 和polystyrene (PS)样品的成像。圆形独立的区域是 PS ，周围连续的介质是 sPP。扫描范围3 μm。

牛津仪器原子力显微镜Cypher ES基于Cypher S的卓越性能，添加了全套环境控制功能。虽然高分辨率，速度和稳定性的特征相似，但是Cypher ES可以使操作变得十分简便，无论是在气体或是液体环境，温度0-250°C，还是一些zei具刺激性的化学环境中均可运行。Cypher ES可以应对zei严苛的试验要求，是一台终极AFM。

Cypher ES聚合物版原子力显微镜

在聚合物研发领域，Cypher ES具有无可匹敌的性能和广泛用途。我们zei受欢迎的配置之一现已上市，Cypher ES聚合物版现在享受优惠价格，还可快速送货。

Cypher ES聚合物版包括：

• Cypher ES环境控制原子力显微镜

⁃ 相比其它普通原子力显微镜通常具有更高的分辨率

- 快速扫描，获取结果仅需几秒钟

• BlueDrive光热激励

- 简化所有轻敲成像模式的操作

- 使得成像过程更加稳定，即便发生温度变化

- 使得纳米力学成像模式变得更加定量化

 

• 高温样本加热器

- 可以在控制气体环境下将样本加热至250°C

 

- 操作便捷，无需额外的控制器、电线或管道

 

• 快速力扫描成像

- 捕捉高速力曲线用于储存模量映射

- 捕捉所有曲线，包括偏差和Z传感器

- 支持众多压痕模型，包括Hertz、DMT、Sneddon和JKR

• 调幅调频粘弹性映射模式

- zei快的纳米力学映射模式（>20 Hz线扫描速率）

- 量化测量储存模数和损耗正切角

- 运行模数范围大(~50 kPa - 300 GPa)

• 接触共振粘弹性成像模式

- 量化测量储存模数和损耗正切角

- 适用于高模数材料（1 GPa - 300 GPa）

• GetStarted自动成像优化

- 在扫描开始前就自动优化成像参数

- 首行扫描线就可获得绝佳数据，不损伤样本或探针

Cypher的性能绝对无与伦比

　　显微镜：第三代平板式、全闭环先进扫描技术平台

　　1.扫描器：横向(X-Y)范围90um×90um;竖直(Z)范围15um (标配型)或者40um(选配型)

　　2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (平均偏差 (Adev) 在0.1Hz-1kHz 带宽)

　　3. 样品大小：直径≤100mm, 厚度≤20mm

　　4.控制器:全数字化、模块化、可编程控制器，其数据处理能力仅仅受限于计算机的的内存大小(允许连续一千万点力曲线和>8190x 8190点高密度像素成像)。允许在5MHz的速度下连续获得200万以上的数据。

　　5. MFP-3D可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：

　　•轻敲模式(Tapping Mode AFM)-拥有Q-control控制技术

　　•接触模式(Contact Mode AFM)

　　•定量相位成像模式(Phase Imaging)

　　•横向力模式(Lateral Force Microscopy, LFM)

　　•磁场力显微技术(Magnetic Force Microscopy, MFM)

　　•扫描隧道显微技术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)

　　• 力调制(Force Modulation)

　　• 静电力显微技术(Electric Force Microscopy, EFM)

　　• 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)

　　• 动态和静态力曲线测试(Force-Distance)

　　•力阵列测量(Force Volume Measurement)

　　• 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)

　　• 超高分辨率导电显微技术(ORCA)

　　• 压电响应模式(Piezo Response Force Microscopy, PFM mode)

　　独有专利技术

　　•高次谐波成像模式(Dual AC Mode)

　　• 分子力力谱模式(Molecular Force Spectroscopy)

　　• 高压压电力模式(HV-PFM)

　　• 能带激励显微技术(Band-Excitation)

　　•双频共振追踪压电模式(Dual frequency resonance tracking)

　　•洛伦茨力驱动轻敲模式(I-DriveTM)