理学ZSXPrimusIII+上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

　　理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定，从氧(O)到铀(U)的zei低标准的广泛样品类型。

　　高度可靠性的上照射式光学系统

　　ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

　　高精度样品定位

　　高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析，用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

　　SQX 基本参数软件与EZ扫描软件

　　用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，快速提供zei准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪

X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。
可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率，使粉末和金属样品的样品处理量达到zei佳。

特点

• 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析

• 高精度定位样品台满足合金分析高精度要求

• 特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差

• 样品室可简单移出方便清洁

• 操作界面简洁、自动化程度高

　　特点

　　实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析

　　高精度定位样品台满足合金分析高精度要求

　　特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差

　　样品室可简单移出方便清洁

　　操作界面简洁、自动化程度高