马尔文在Pittcon2014上推出新型纳米颗粒跟踪分析系统

　　在Pittcon 2014展会上，马尔文仪器展出一款全新产品，是工业界和学术界的综合分析解决方案——Nano Sight纳米颗粒跟踪分析(NTA)系统。Pittcon 2014是马尔文仪器自2013年9月收购纳米科技公司Nano Sight后第一次在美国参展，为纳米颗粒跟踪分析系统增设纳米颗粒大小和计数功能。

Nano Sight纳米颗粒跟踪分析(NTA)系统将在Pittcon 2014展会上展出，马尔文仪器展台号1648

　　NTA系统将与纳米激光粒度仪和全新Viscotek SEC-MALS 20多角度光散射GPC/SEC检测器检测器共同展出。另外在马尔文展位上，Mastersizer 3000超高速智能粒度分析仪将采用全新软件。它能模仿其他激光衍射系统操作方式，而使得测量数据的任何可见差异得到合理解释，因此仪器的升级将变得不再复杂。现场分析能证实测量中的稳定性，并配有自定义报告能轻松满足行业和公司标准。Mastersizer软件现能提供8种语言，满足世界各地的用户完全无碍使用。

　　马尔文的专家也将举办一系列Pittcon 短期活动，包括：3月1日周六举办样品粒度分析、3月5日周三举办高级凝胶渗透色谱法测定、纳米材料粒度表征，3月6日周四举办基础粒度分析重点光散射技术。