发布时间:2014-05-07 14:04 原文链接: PNAS:半导体测序助力胎儿遗传病检测

  日前,来自中国广州医科大学等机构的科研人员报告了一种基于半导体的DNA测序平台可能有助于增加胎儿遗传病检测的速度并减少成本,研究报告被发表在5月5日的PNAS网络先行版上。

  什么是基于半导体的DNA测序?

  半导体DNA测序平台是使用半导体生物传感器芯片,对DNA复制期间产生的氢离子进行实时测定。芯片上密布了数百万个微孔,每个微孔都是单独的反应器,包括一个待测序的DNA模板片段(一种微流控芯片技术)。在加入一种dNTP后,如果加入的这种dNTP和模板中的引导核苷酸互补,就会形成互补链。在形成互补链过程中释会放出一个氢离子(H+),从而引起PH值的改变。通过实时测定PH值变化值逐步将遗传信息(DNA)翻译成DNA序列组合信息。

  胎儿遗传病检测发展:从荧光检测到氢离子检测

  过去对于有必要接受染色体异常检查的孕妇,传统诊断多采用羊膜穿刺或绒毛膜采样的方法,大多在怀孕12周左右进行。这些介入性方法有两大缺点:一是时间长,需要2周到3周才能出结果;二是穿刺针有不到1%的几率扎到胎儿,可能引发感染甚至流产。

  自从1977年第一代测序技术出现之后,经过了30多年发展, 第三代测序技术已经初露端倪,并向着更快、更准、更便宜的方向发展。目前称得上第三代测序技术主要是Helicos公司的单分子测序技术、Oxford Nanopore Technologies公司的纳米孔单分子测序技术等。然而纳米孔单分子测序技术因为测序量较低而不能用于孕妇的胎儿DNA产前检测。

  与第二代测序技术相类似,基于半导体的DNA测序平台也属于一种无创检测,其操作基本步骤与二代相似。当试剂通过继承的流体通路进入芯片中,密布于芯片上的反应孔立即成为上百万个微反应体系。这种独特的流体体系、微体系机械设计和半导体技术的组合,使得研究人员能够在两个多小时内获取从10Mb到1Gb以上高精确度序列。

  只需抽取孕妇2毫升血样,就能诊断与染色体异常有关的先天缺陷,包括最常见的唐氏综合征、导致形体和器官多种异常的爱德华氏综合征等。这项研究的负责人、加州大学圣迭戈分校遗传医学研究所所长Kang Zhang说,这种高通量测序技术,能一次对几十万到几百万条DNA(脱氧核糖核酸)进行序列测定。可把诊断提前到怀孕第9周,4天便能出结果,准确率也非常高。

  半导体测序在产前检测中的优点:迅速、便捷、成本低

  近来基于大规模平行测序的方法已经促进了迅速的、非侵入式的出生前遗传测试,这种测试通过分析母亲血浆中流动的无细胞DNA从而测试,被称为非整倍性的染色体拷贝数的异常。

  这项研究中的基于半导体的实验台测序平台,可在2-4个小时里每秒获取50亿个数据点,因此也就增加了迅速、便携而且具有成本效益的胎儿非整倍性产前诊断的效率。研究人员通过对515名孕妇测试诊断灵敏度和特异性从而验证了这个测序平台,这些孕妇来自中国的两所医院,此前通过核型分析获得了她们的非整倍性数据。

  研究人员报告称,这个平台发现了全部55例唐氏综合征、16例爱德华综合征、3例Patau综合征——它们的特点都是有额外的染色体拷贝——而特异性和灵敏度在99%到100%之间。此外,这种方法帮助识别出了15名性染色体非整倍性的胎儿。之后,研究人员将这一平台应用到了1760名没有核型分析数据的孕妇身上,结果检测到了15例唐氏综合征、爱德华综合征或Patau综合征,以及1例X染色体非整倍性。

  为什么半导体测序检测DNA序列速度更快?

  第二代测序(Illumina/Solexa Genome Analyzer测序)的基本原理是边合成边测序。采用不同颜色的荧光标记四种不同的dNTP,当DNA聚合酶合成互补链时,每添加一种dNTP就会释放出不同的荧光,根据捕捉的荧光信号并经过特定的计算机软件处理,从而获得待测DNA的序列信息。测序过程包括:测序文库的构建、锚定桥接、预扩增、单碱基延伸测序和数据分析5个步骤。其不足是读长会受到多个引起信号衰减的因素所影响,如荧光标记的不完全切割。

  由于DNA合成过程中释放氢离子引起的pH值变化,半导体传感器芯片就是对DNA复制期间产生的氢离子进行实时的测定,不需要修饰核苷酸,也不需要激光器或光学检测设备,因此速度较快。

  该项研究课题组Kang Zhang等人员表示,随着大龄母亲越来越多,新生儿出生缺陷几率呈上升趋势。基于半导体的实验台测序平台能提高诊断速度,降低检测成本,不仅为将来“由医院直接完成所有检测”提供了可能性,而且为节省具有特异性的产前遗传诊断的时间和成本铺平了道路。

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