710／715系列ICPOES全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪

简介：

高效、无可匹敌的性能 

710/715 系列 ICP-OES 具有无可匹敌的性价比；可用于实验室的日常、适量通量样品分析。

系统具有易用的 ICP ExpertII 软件，是教学研究机构和需要遵守 WEEE/RoHS 指令的实验室的理想选择。该系列可提供轴向观测 710-ES 或径向观测 715-ES 配置。

特点：

优秀的等离子体性能 — 可实现有机样品的直接分析减少样品制备时间

优异的光学系统 — 连续波长覆盖，多元素多谱线可选，扩展动态范围，减少干扰，使分析结果更加可信

zei高的灵敏度 — 专用的样品导入系统和轴向观测等离子体为痕量分析应用提供高灵敏度

坚固耐用 — 径向观测等离子体与高效的样品导入系统；可实现zei苛刻基质样品的分析

可增强性能 — 大量可选附件的应用可提升仪器在特定应用领域的性能

直观 — 强大 — 易于使用的ICP-Expert II软件

节约成本的冷锥接口技术 — 无需使用昂贵的切割气体

真正的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪，世界上首台百万像素CCD 检测器的全谱直读ICP-OES，新一代薄型背投式密封CCD 检测器，无需氩气吹扫，运行成本低，具有极好的性价比。

一个CCD 检测器，全谱覆盖

紫外、可见同一个狭缝

单一的垂直观测或水平观测方式

一次进样，全谱同时测定

分析过程中无任何需移动的光学部件

• 优秀的等离子体性能实现了样品的直接分析和zei少的样品制备时间

• 优化的光学设计-专利的CCD检测器提供了卓越的信噪比性能实现了低检测限

• zei高的灵敏度 – 专用的样品导入系统和轴向观测等离子体为痕量分析应用提供高灵敏度

• 坚固耐用-径向观测等离子体与有效地样品导入系统；可实现了zei苛刻基质样品的分析

• 可增强性能-大量可选附件的应用可提升特定应用的性能

• 直观-强大-易于使用的ICP-Expert II软件

• 节约成本的冷锥接口技术-无需使用昂贵的切割气体

光学系统：中阶梯光栅前置棱镜交叉色散系统

波长范围：177～785nm，全波长连续覆盖

焦距：0.4m

光栅刻线：94.74线/mm

分辨率要求：像素分辨率≤0.004nm(200nm)，光学分辨率≤0.009nm(在200nm)

检测器：背面入射式的CCD固体检测器，有效象素≥112万象素

线性范围：结合MultiCal多重检量线功能,需要达到108以上

功率范围：700-1700W,增量50W,有PC控制

元素的检测限(ug/L)：

Al 396.152  0.9；Cr 267.716  0.2；Fe 238.204  0.2 ；Cd 214.439  0.08 ；Co 238.892  0.3

环境温度：10℃～35℃

相对湿度：8%～80%(不冷凝)

电源：220V±10%交流，50Hz

710-ES/715-ES全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪参考技术性能指标

1技术性能指标

总体描述：

仪器为台式设计、全谱直谱型电感耦合等离子体发射光谱仪，满足各行业的科研和生产分析过程,可方便的进行定性、半定量、精确定量分析，是常量、微量和痕量无机元素同时分析的理想仪器。

2技术参数：

2.1光学系统

仪器光学系统要求:中阶梯光栅前置棱镜交叉色散系统；波长范围177～785nm，全波长连续覆盖；焦距：0.400米；光栅刻线：94.74线/mm；

紫外区和可见区分析波长测定方式:紫外和可见区必须同时测定，测定过程中无任何移动部件；

密封单色器，恒温35℃；

波长校正方式：采用15种标准混合溶液进行波长校正,并且利用氩的发射谱线自动进行周期性的实时波长校正；

分辨率要求：像素分辨率≤0.004nm(200nm)，光学分辨率≤0.009nm(在200nm)；

杂散光要求：≤2ppm As(10,000ppm Ca溶液在As 188.980nm处测定)；

单色器为吹扫型，吹扫气流量不超过0.5L/min，且185nm以下波长测定：需要快速吹扫光路,吹扫气流量不超过3L/min,气体流量均有PC控制。

2.2检测器

检测器为背面入射式的CCD固体检测器，有效象素≥112万象素；

检测器冷却温度：-30℃，半导体制冷；

检测器表面无任何光敏涂层涂膜；在200nm~800nml量子效率(QE)达50-90%；

检测器必须对检测器的每个象素具有防溢出功能；

积分方式：具有智能化积分功能，同时以zei佳信噪比获得高强度信号和弱信号；

检测器线性范围：结合MultiCal多重检量线功能,需要达到108以上；

2.3观测方式

观察方式：水平观测方式（710-ES）；垂直观测方式（715-ES）

轴向观测的 710 ICP-OES 配套专用的进样系统为常规实验室的痕量元素分析提供了zei高的灵敏度

径向观测的 715 ICP-OES 配套高效的进样系统使zei苛刻的样品分析变得异常简单

等离子体尾焰去除方式:采用“CCI”冷锥接口技术；

炬管安装后具有水平、垂直位置自动准直功能，且有PC自动控制；

2.4射频发生系统

空冷自激式40.68MHz高频发生器；

直接串联耦合设计（DISC），无任何移动部件，耦合效率大于75％；

功率范围：700-1700W,增量50W,有PC控制;

输出功率稳定性：优于0.1%.

2.5进样系统

蠕动泵：需要3通道蠕动泵,转速范围:0-50rpm，具有快泵及智能清洗功能；

样品导入装置：具有耐高盐和耐酸碱的雾化器和雾化室；

气体流量调节范围：雾化气流量：高精度流量调节器, 0 – 400kPa无级连续调节；等离子体气：0～22.5L/min,1.5L/min增量；辅助气：0～2.25L/min，0.75L/min增量；

2.6 元素的检测限(ug/L)

Al  396.152   0.9(710-ES)，4(715-ES)；

Cr  267.716   0.2(710-ES)，1(715-ES)；

Fe  238.204   0.2(710-ES)，0.9(715-ES)；

Cd 214.439    0.08(710-ES)，0.5(715-ES)；

Co 238.892    0.3(710-ES)，1.2(715-ES)                                         

2.7长时期稳定性:8小时,小于1%(不加内标,不采用漂移修正)。

3仪器操作软件及计算机控制功能要求

计算机操作系统：Windows2000/XP/NT；

操作软件控制：仪器设置和参数选择，包括气体流量，RF功率、点火、诊断等；

操作软件：具有工作表格界面的中文操作软件、在线帮助和在线仪器维护录象功能；

操作界面具有实时图形显示光谱信号，结果和曲线图功能；

软件具有在线谱图库：≥33,000条谱线；同时具有任意填加分析谱线的功能；

具有快速自动曲线拟和技术（FACT）功能，对复杂的光谱进行在线光谱校正；

软件具有标准曲线重置斜率功能，以避免整条标准曲线的重校；

软件支持Microsoft’s SQL Server 2005数据库， 进行存储数据的保护和结果的快速恢复；

用户可以设定多种报告或输出的方式；

软件操作界面具有图形显示系统状态和进行全面的仪器状态诊断工具；

分析190nm以下分析谱线时，一旦点火，软件具有自动启动吹扫功能，确保短波区域的分析谱线获得准确的测定结果；

软件具有自动启动等离子体熄火功能，提高仪器运行的安全性能；

4工作条件

工作环境：

环境温度：10℃～35℃

相对湿度：8％～80％（不冷凝）

电源：220V±10％交流，50Hz。

5计算机和打印机