中科院专家研发出水稻全根系无损检测新手段

　　中科院合肥物质研究院技术生物所和强磁场科学中心共同合作，在世界上首次利用造影剂加磁共振成像技术实现水稻全根系无损检测，为植物根系全生长周期研究提供了一种重要的新方法。

　　根系在植物生长发育中具有重要作用，但由于根系生长在不透明的土壤中，缺乏快速、准确、无损的原位观测方法，影响了对植物根系的深入研究。传统的根系研究方法采样破坏性大、工作量大、准确性较低。

　　磁共振成像作为一种在医学上广泛应用的成像技术，其具有无损检测和分辨率较高等优点。中科院研究人员利用强磁场科学中心高场强成像装置为植物根系全生育期成像找到了一个更加优越的研究平台。

　　此外，水稻根系的磁共振成像也面临着磁共振成像信号强度较低等技术问题与挑战。研究人员利用磁共振造影剂来提高根系成像品质，并通过反复试验，得出不影响植物生长、真实反映根系状况的造影剂使用剂量和浓度。

　　据了解，这项研究成果发表在美国《公共科学图书馆》杂志上。