如果使用示波器或者频率计，就需要无源电压探头配合测试，那么首先考虑的是仪器对负载电容的影响。晶体振荡电路的并联谐振频率公式：
其中：C1、C2是负载电容，Cs是印制板的寄生电容
Cp是晶体的等效并联电容
从上面的电路结构上看，C3、C4串联后的电容会并联到C1上，结果使负载电容量增大，最终导致振荡频率减小。而如果C3、C4的容值越小，对电路的影响也就越小。但限于目前的测试系统，C3和C4串联后的电容值是几个pF的级别，而C1通常是20~30pF，所以仪器对负载电容量的影响在10%以上，最终会导致测量结果产生几个ppm（单位，百万分之一）的频率偏差，通常电路设计对晶体频偏的要求是30ppm左右，所以这个影响还是不能忽视的。
但如果使用频谱分析仪，配合近场探头测试，因为仅在空间上有电磁场的耦合，所以仪器的影响可以忽略。从这个角度上看，频谱分析仪更适合测量晶体频率。