俄歇电子能谱仪的研制和Ar的快电子碰撞研究

本论文介绍了作者在攻读硕士学位期间的研究工作,主要包括:俄歇电子能谱仪的设计和研制情况;用电子能量损失谱方法对氩原子的内壳层2p激发进行研究,结合Cowan code的计算,得到了各个跃迁的能级和自然宽度。在第一章中,主要介绍了俄歇电子能谱仪的建立目的。首先介绍了俄歇过程的基础知识,包括俄歇效应的概念、俄歇电子能量的计算、俄歇跃迁的选择定则以及空穴的制备等,对俄歇现象和光电离、X射线发射进行了比较,介绍了共振俄歇效应。然后介绍了基于同步辐射的俄歇能谱研究。最后介绍了电子激发的俄歇能谱仪在原子与分子物理中的应用,它可以用于原子分子内壳层、内价壳层以及自电离态的研究。在第二章中,介绍了本文设计和研制的俄歇电子能谱仪的情况。首先介绍了本文研制的俄歇电子能谱仪的总体设计和总体构造,它包括电子枪、作用室、电子透镜、电子能量分析器、高真空系统、电源供电系统、计算机数据采集和处理系统等。然后就谱仪的各个组成部分分别作了介绍,主要包括电子枪、电子透镜和能量分析器的结构、组成、各电极的电位及其性能指标等。在第三章中,用电子能量损失谱方法对氩原子内壳层2p的激发态进行了研究。在入射电子能量为2.5 keV、能量分辨为55 meV、散射角分别为0°和4°条件下得到了氩原子2p电子的内壳层激发电子能量损失谱。同时用Cowan code计算了2p激发的能级位置和中间耦合系数。结合理论计算和实验观测谱,标识了实验观测谱并得到了激发态2p_3/2¹nl和2p_1/2^-1nl（n≤5）的能级和自然宽度。论文的最后部分是对硕士期间从事工作的总结及对未来进一步工作的建议和展望。