单晶X 射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。
劳埃法
劳埃法以光源发出连续X 射线照射置于 样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同，劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组成，每一个劳埃斑相应 于晶面的1～n级反射，各劳埃斑的分布构成一条 晶带 曲线。
周转晶体法
周转晶体法以单色X 射线照射转动的 单晶样品，用以样品 转动轴为轴线的圆柱形 底片记录产生的衍射线，在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定 晶体的 衍射方向和衍射强度，适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体（如正交、 单斜、三斜等晶系晶体）结构，但应用较少。