原子力显微镜对不同方式处理的副流感病毒成像

         用原子力显微镜（atom force microscope,AFM）对不同处理条件下的副流感病毒（para influenza virus,PIV）进行成像研究,观察病毒的不同表面形貌和由表及里的超微结构。透射电镜（transmission electron micro-scope,TEM）提供的二维图像可以观察到病毒有圆形和带状的突起。用AFM对完整的病毒颗粒进行成像,从获得的三维图像中我们观察到呈球形的病毒颗粒表面圆形和带状突起的细部结构,两者相比较,AFM的三维图像能更真实地反映病毒的表面形貌和超微结构。用Tritonx-100处理病毒,可使病毒包膜部分或完全溶解,暴露病毒衣壳,通过图像我们观察到了PIV病毒逐步去除包膜后的不同表面形态结构和超微结构。用SDS处理病毒,能够释放出病毒RNA,用AFM进行成像观察,可见病毒的RNA结构。AFM是能够快速有效地对PIV病毒表面形貌和由表及里的超微结构进行研究的有效工具。