发布时间:2018-10-17 17:05 原文链接: 原子荧光法中空白影响因素的探讨

原子荧光法中空白影响因素的探讨

摘要  本文在原子荧光测量过程中,从所使用的酸、还原剂、负高压和灯电流等方面对原子荧光空白值进行了探讨和研究

关键词  原子荧光  空白  测量

前言

原子荧光法是原子光谱法中的一个重要的分支,它结合了原子发射和原子吸收两种技术的优点,能还好的弥补原子吸收在测定某些元素方面的不足。在测砷元素方面原子荧光更优于原子吸收。原子荧光法在测As过程中,空白值的高低对测量结果有很大的影响,因此有必要对空白的影响因素进行深入的探讨和研究。

影响原子荧光空白的因素主要有以下几个方面:

2.1  测定介质的选择及浓度的影响

选择HNO3HClHClO4H3PO4H2SO4等进行了实验,结果表明:HClO4H3PO4作介质响应值较低,汞在H2SO4溶液中能得到较大灵敏度,但空白值也高。汞在HNO3HCl溶液中的荧光强度差别不大。在5%25%的硝酸和5%20%的盐酸中荧光强度基本稳定,本法选择5%的盐酸溶液。

2.2  酸的影响

作为原子荧光的载流和标准试剂的基体,酸对原子荧光的影响十分的突出。一般在原子荧光中使用的酸主要有两种-盐酸和硝酸。由于在原子化过程中需要把反应以后过多的酸,驱除出去,而硝酸比之盐酸更加难以的去处,因此我们习惯上使用盐酸来作为原子荧光使用的酸。但是现行市场上所能购买到的盐酸,其稳定性变化很大,同一种酸不同的批号相差也非常的大。而酸对原子荧光的影响主要体现在空白值上面,质量差一点的酸,对空白的影响要大得多。

1

序列(空白)

A道荧光强度

B道荧光强度

1号盐酸

876.96

1358.16

1283.52

1935.46

2号盐酸

1073.78

1561.63

1174.85

1744.45

3号盐酸

139.35

183.69

140.80

180.52

从表1中可以看出,酸的空白值如果太大的话,前后两次所测量的空白之间的差值就相差很大,而我们为了保证所测得曲线的准确性,空白判定值一般设定为<4,酸的空白值太大的话就难以达到空白判定值的要求,基线稳定不下来,出现漂移,使所测数据不确定度明显增大,造成数据失准。经过多次的测试经验所得,对于测As来说在其他条件保持在推荐值的情况下,空白一般保持在100~350荧光值之间为易,太大增加不确定度,太小的话,灵敏度不够,测得的数据不准确,因此在选酸的时候要选择空白值小一点的酸。。

2.3  还原剂的影响

作为原子荧光的还原剂,一般使用最多的是硼氢化钾或硼氢化钠,在原子荧光法中,还原剂对样品以及空白值的影响主要体现在它的用量。硼氢化钠浓度的影响由于Hg 2+的氧化还原电极电位较一般干扰元素高,故在浓度较低的还原剂作用下也能迅速被还原成原子态汞,高浓度硼氢化钾产生大量的氢气稀释了待测元素氢化物,因此硼氢化钾浓度不宜超过30%。现在以硼氢化钾-氢氧化钾作为还原剂,来检测它的用量对空白值的影响情况。

  2

序列

还原剂(KHB4-KOH

A道荧光强度

B道荧光强度

1

0.5%KOH

63.67

63.75

62.09

62.18

2

0.5%KHB4-0.5%KOH

141.94

143.79

174.44

176.98

3

1.0%KHB4-0.5%KOH

126.44

122.95

152.33

149.53

4

1.5%KHB4-0.5%KOH

197.45

197.23

245.32

244.39

5

2.0%KHB4-0.5%KOH

178.66

173.92

200.75

198.09

从表2中可以看出还原剂的含量对荧光的空白值有一定的影响,还原剂不是越大越好,在保证测量样品用量(一般以仪器本身的推荐值为参考依据)的情况下,还原剂应小点为好。实验表明,当硼氢化钠浓度为1%时,灵敏度和稳定性好,并且有效消除干扰。本法选择硼

氢化钠浓度为1%‑

2.4  负高压对空白值的影响

负高压对原子荧光空白值的影响十分明显,特别是在空白值很高的情况下,负高压能起到很好的调节作用,使所测量的数据准确、可靠。在仪器条件的选择中,增大负高压,所测的信号强度也随之增大,但过高的负高压会产生较大噪声。负高压过高过时信号很不稳定,过低的话灵敏度不够,使所测数据不确定度增大。实验表明,负高压为260320V时,信号强度值重现性好。本法选择270V o

3

负高压

A道荧光强度

B道荧光强度

200V

99.44

119.30

100.28

121.93

220V

157.22

207.87

156.34

208.07

240V