| 仪器名称： | 场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F |
| 仪器编号： | 98075000 |
| 产地： | 日本 |
| 生产厂家： | 日本电子 |
| 型号： | JSM-6301F |
| 出厂日期： | 199707 |
| 购置日期： | 199803 |
| 所属单位： | 材料学院>材料中心 >电镜中心 |
| 放置地点： | 清华大学主楼东配楼十一区118室 |
| 固定电话： | |
| 固定手机： | |
| 固定email： | |
| 联系人： | 王永力（010-62773015,13911378129,447293071@qq.com） 闫允杰（010-62773996,13651374317,yanyunjie514@263.net.cn） |
| 分类标签： | 扫描电镜 EBSD FSEM 显微镜 场发射扫描 分析电镜 高分辨显微镜 电子显微镜 EDS SEM 场发射扫描电子显微镜 场发射扫描电镜 扫描 形貌观察 场发射 场发射电子枪 扫描电子显微镜 微区分析 形貌 线扫描 面分布 电镜 能谱仪 能谱 样品观测 纳米 |
| 技术指标： | 该设备性能指标：加速电压：500V-30kV：分辨率：1.5nm/15KV，6nm/1kV；束流1pA-4nA； 能谱仪：能量分辨率：128eV 探测范围：B4-U92？电子背散射衍射：优于10点/秒 ；利用该设备能够进行样品表面形貌分析同时可以进行成分分析和晶体结构分析，可以进行材料（纳米材料、半导体或绝缘体）的阴极发光分析。配置有离子溅射设备，可以溅射Au和C。 |
| 知名用户： | 清华大学 中科院 中国农大 林大 地大 |
| 技术团队： | 北京电子显微镜中心建设了一支由国际知名的电子显微学和材料科学专家为学术带头人、由通晓电子显微分析理论和技术及材料科学等相关理论的优秀研究和技术人员组成且结构合理的人才队伍，由固定和客座研究人员组成，承担科学研究、共享服务人才培养、设备管理和维护等具体工作，固定科研和技术人员共10人，其中院士1人，教授2人，副教授2人，高级工程师4人（博士一人，硕士两人，学士一人），工程师3人（博士）。设备运行采取责任教授和责任工程师负责制。 |
| 功能特色： | 通用型场发射扫描电镜，适用于不挥发、非磁性、致密固体材料的形貌、成分及晶体结构观察与分析。 |
样品要求：
一般样品直径小于50mm，，高度8mm；直径小于25mm时，高度20mm；极限尺寸直径100mm厚度1mm。
预约说明：
首次扫描实验测试步骤：
制备好样品（整洁、易固定、无磁性、干燥、无碳氢化合物污染等）
建立导师账号（预存测试费实现预约）
实验室现场讨论实施方案（实验目的 确定使用仪器 确定制样方法等）
样品预处理适