安捷伦参加CPSA2012介绍QTOF分析药品杂质工作流程

　　2012年4月25日，第三届中国上海化学与药物结构分析会议(Chemical &Pharmaceutical Structure Analysis) (CPSA Shanghai 2012)在上海浦东新区淳大万丽酒店召开，来自国际知名药企、跨国大制药公司、中国CRO、生物医药研究所和高校的高管、专家、学者百余人参加了本次会议。安捷伦公司参加会议并做了精彩报告。

安捷伦公司午餐报告会现场

安捷伦公司LC/MS市场部应用工程师 皮娜博士

　　安捷伦公司液相质谱市场部应用工程师皮娜博士为与会者介绍了《安捷伦QTOF LC/MS进行药品杂质分析工作流程》。

安捷伦公司QTOF LC/MS系统

　　制药过程中除了获得有活性的的新药外，也会产生很多杂质。有无机杂质、有机杂质、溶剂残留、多晶形杂质和对映体杂质等。有机杂质可能来源于原材料、辅料、试剂、中间产物、降解产物、萃取过程和污染等。其中遗传毒性杂质也属于有机杂质，其毒理学关注阈值TTC为1.5ug/day。安捷伦公司推出的QTOF LC/MS联用系统灵敏度比前代提高10倍，配有新型MassHunter 软件对Agilent Q-TOF 提供功能支持，便于其开展定性和定量分析以及全新的定性/定量工作流程。新的研究管理器功能能够快速设置采集和处理方法，从而提高系统的整体效率。非常适合药品杂质的分析。

　　皮娜博士首先简单介绍了QTOF LC/MS联用系统分析样品的工作流程。使用MassHunter 软件采集数据功能设定MS模式下运行样品，定性分析功能中使用MFE(Molecular feature Extraction)发现化合物，根据Mass Profiler初步定性杂质，ID browser调用AMRT数据库、MFG(molecular formula generator)检索，进一步从分子式水平确认化合物。同时离子会自动进入目标MS/MS筛选，进行定量分析，进行MFG(MS/MS)和MSC(molecular structure correlation)分析，最终从分子结构水平确认出化合物。

　　皮娜博士介绍到安捷伦的6520 QTOF LC/MS在质量精确度已经达到亚ppm级，分辨率大于20000，灵敏度达到pg，谱图动态范围超过10⁵，扫描速度超过40Hz。因此不仅能够用于确证目标化合物，也可用于未知化合物的鉴定。

　　随后皮娜博士详细讲解了PCl-XXX杂质工作流程。PCl-XXX样品多用于杂质分析和鉴定。在MS水平上发现化合物，MFE(Molecular feature Extraction)峰发现算法可以准确判断化合物的特征，包括发现同位素离子、加合物、二聚体在内的共洗脱离子，并把所有离子信号汇集到一个水平，完全自动的根据保留时间和中性质量数报告结果。在MS水平上也可以进行区别性分析，并把结果输出到MS/MS以确证化合物结构。Mass Profiler也可以进行区别性分析，使用保留时间和质量数，过滤结果，从而定性杂质。在MS水平上也可以鉴定化合物，AMRT数据库原来包含23000种化合物，之后又新增了1000种化合物的保留时间。MFG计数算法中使用到质量数匹配、数量匹配、空间匹配的方法。

　　MS结果可以自动导入继续进行MS/MS水平的杂质分析，发现并鉴定出化合物。MS/MS水平上有精确质量数谱图库：METLIN AMRT PCDL，也有MFG(MS/MS)计数算法，并可以通过MassHunter MS/MS Structure Correlation：MSC在几分钟内提供出高可信度的目标结构确认。

　　皮娜博士以实例详细讲解了安捷伦QTOF LC/MS联用系统进行杂质分析的工作流程以及MassHunter 软件的各项功能。使与会者对安捷伦的QTOF仪器有了更深更全面的理解。