加长炬管ICP原子/离子荧光光谱
利用 Plasa/AFS 2000系统中加长炬管 ICP 为原子化器/离子化器进行等离子体原子/离子荧光光谱研究，原因之一是充分利用已有的硬件设备，尤其是系统本身的等离子体光源以及元素组件，二 是建立的等离子体原子/离子荧光光谱检测系统可直接与 Plasa/ AFS 2000系统的分析性能进行比较。
以 HCMP-HCL 为激发光源，用加长炬管 ICP 较低的观测高度对部分碱土金属元素（Ca、Sr、Ba）、稀土元素（Eu、Yb）的 AFS/ IFS 研究结果表明，离子荧光光谱的检出限与原子荧光光谱相比均得到了一定程度的改善。下表是利用 Plasa/AFS 2000原子荧光光谱仪的加长炬管 ICP、以 HCMP-HCL 为激发光源进行原子/离子荧光光谱研究的实验结果。表中结果说明，HCMP-HCL 激发的 ICP- AFS/IFS 可以改善碱土元素、稀土元素的检出限，对难熔元素Ba、 Eu 的检测能力改善也非常明显，该技术与 CP-HCL 激发的 ICP 原子荧光光谱相比，检出限可改善几倍到几十倍。
加长炬管 ICP-AFS/IFS 的检出限(3a)/ng • mL-1
分析线/nm | HCMP-HCL-， ICP-IFS/AFS® | CP-HCL-ICP-AF® | CP-HCL-ICP-AFS® |
Ca II 393.366~396.847 | 0.6 | 0.7 | 0.3 |
Ca I 422. 677 | 0.5 | ||
Sr II 407. 771 | 0.3 | ||
Sr II 421. 552 | 1.7 | ||
Sr I 460. 733 | 11 | 0. 9 〜4. 5 | |
Ba II 455. 403 | 3.8 | ||
Ba II 493. 409 | 5.6 | ||
Ba I 553.548 | 440 | 90〜450 | |
Eu II 381. 976 | 12 |
在加长炬管 ICP 中进行原子/离子荧光光谱研究时，难熔元素容易与渗入等离子体尾部的氧结合，以 QP-HCL 为激发光源时的等离子体 AFS 灵敏度通常很低；虽然降低观察高度可以减轻渗入等离子体尾焰中氧的影响，改善难熔元素AFS 测定的检出限，但 更低观察区域的原子荧光、离子荧光信号测量要透过石英炬管壁才能进行，增加了研究工作的难度。为此，选择原子发射光谱中傀用的 Fassel 型“短炬管”进行 ICP-AFS/IFS 的研究成为自然、简单的选择。