干涉显微镜的分类介绍

　　干涉显微镜分为双光束和多光束两类，采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差，通常测定工件加工光洁度及高度差约为1/10波长的显微组织可采用双光束干涉显微镜，林尼克干涉显微镜即属这一类。而多光束干涉显微镜能显示试样表面相邻两点为l/1 000波长的高度差，因此在金相组织的分析中有重要意义。