扫描电子显微镜—从基础出发、一切尽在掌握之中

无论是SEM还是TEM，其主要目的都是成像。光与物体作用，使其呈现于人眼；在SEM/TEM中，电子取代光，与物体相互作用，使其呈现于屏幕。高速电子与样品相互作用后发射出一系列的“电磁波”（如图1）。

图1

图片来源于扫描电子显微学（PPT）

SEM与TEM的不同之处在于收集不同的电子用于成像。SEM收集二次电子和背散射电子；TEM收集透射电子和散射电子。一个不太恰当的比喻：在阳光下，你既可以看到大树，也可以看到大树的影子。大树好比SEM成像；大树的影子好比TEM成像。显而易见，影子虽然也能反映大树的外形，但是大树原型更加立体，可观。如图2所示：

图2

图片来源于百度图片

上文中已经提到SEM收集二次电子或者背散射电子成像。二次电子和背散射电子的发射方向都位于样品的上方，所以SEM的探测器也位于样品的上方（这也是与TEM一个很大的不同之处）。SEM的整体外形图和构造图如图3和图4所示。

图3

图4

图片来源于扫描电子显微学（PPT）

SEM中电子从电子枪发射后，被加速、然后通过磁透镜聚焦，最终以点的形式照射到样品上。点的宽度与电子枪类型、加速电压等有关，最细可达到1 nm。逐点扫描并收集二次电子或背散射电子，扫描样品的同时，显示屏逐步显示图像。图4中的关键部件是电子探测器。目前探测器的种类繁多。根据种类不同，可以区分二次电子和背散射电子。

电子进入样品后，一部分散射、一部分被吸收、还有一部分透射。被散射电子中，角度大而被散射回去的部分称为背散射电子。这部分电子用于成像就叫背散射成像。背散射有分为两大类：弹性背散射和非弹性背散射。弹性散射不损失能量，只改变方向。非弹性散射不仅改变方向，还损失能量，如图5b所示。

图5

图片来源于扫描电子显微学（PPT）

样品本身的电子吸收能量后，可能发生很多变化。其中原子外层的电子可能被电离，从而逃逸、形成二次电子，如图5a所示。如果从能量的角度考虑，弹性背散射电子能量最大（等于入射电子能量Eo），非弹性散射电子能量较小（分布范围宽），二次电子的能量最小（<50 ev），如图6所示。

图6

图片来源于扫描电子显微学（PPT）

二次电子能量小，样品中绝大部分二次电子被再次吸收，从而很难从样品中逃逸出来，只有浅表层原子的二次电子才能逸出。所以二次电子能够很好的反映材料的形貌，受厚度干扰少。背散射电子同样可用于成像。因为背散射电子穿透能力强，深入样品内部，再被反射回来。所以其成像能力没有二次电子好。但是因为背散射电子的强度和原子质量直接相关（图7），所以背散射电子可用来区别不同元素。

图7