扫描电镜试样制备技术

    试样制备技术在电子显微术中占有重要的地位，它直接关系到电子显微图像的观察效果和对图像的正确解释。如果制备不出适合电镜特定观察条件的试样，即使仪器性能再好也不会得到好的观察效果。

   和透射电镜相比，扫描电镜试样制备比较简单。在保持材料原始形状情况下，直接观察和研究试样表面形貌及其它物理效应（特征），是扫描电镜的一个突出优点。扫描电镜的有关制样技术是以透射电镜、光学显微镜及电子探针X射线显微分析制样技术为基础发展起来的，有些方面还兼具透射电镜制样技术，所用设备也基本相同。但因扫描电镜有其本身的特点和观察条件，只简单地引用已有的制样方法是不够的。扫描电镜的特点是：

   ①观察试样为不同大小的固体（块状、薄膜、颗粒），并可在真空中直接进行观察。

   ②试样应具有良好的导电性能，不导电的试样，其表面一般需要蒸涂一层金属导电膜。

   ③试样表面一般起伏（凹凸）较大。

  ④观察方式不同，制样方法有明显区别。

   ⑤试样制备与加速电压、电子束流、扫描速度（方式）等观察条件的选择有密切关系。