分析测试百科网讯 日本理学在Pittcon 2016展会上推出日本理学 NEX DE VS 直接激发 EDXRF 元素分析仪。
NEX DE VS 分析仪是日本理学 NEX DE 系列直接激发 EDXRF 元素分析仪的全新补充产品。NEX DE 系列的每台仪器都配备了60 kV、12瓦的X射线管和一个高通量的硅漂移检测器。该检测器支持的计数率大于500K cps，能够达到低的检测下限。
该仪器可用于要求严苛的应用，或者对分析时间和样品通量要求严格的情形，广泛适用于探索、研究、RoHS筛查、教学以及工业和生产监控。
该 NEX DE VS 分析仪非常适用于小型现场分析应用。它具有一个高分辨率摄像头，搭配自动准直器允许对样品进行精确定位，进行1mm、3mm、和10mm光斑尺寸的分析。这些特点搭配日本理学的 QuantEZ 分析软件，可在同一台仪器中同时进行散点分析和小光斑分析。
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