发布时间:2022-11-04 14:26 原文链接: 根据缺陷的作用范围对真实晶体缺陷进行分类

点缺陷:在三维尺寸均很小,只在某些位置发生,只影响邻近几个原子。

线缺陷:在二维尺寸小,在另一维尺寸大,可被电镜观察到。

面缺陷:在一维尺寸小,在另二维尺寸大,可被光学显微镜观察到。

体缺陷:在三维尺寸较大,如镶嵌块,沉淀相,空洞,气泡等。