梅特勒新型天平――更强技术，更高性能

   梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。