比表面分析仪的技术特点

　　· 触摸屏/键盘控制

　　· 提供组分浓度，粒度区别，产品差异等信息

　　· 从四种特定类型中识别初始分离机制

　　· 多达50个分离测试点

　　· 识别过程设计参数以及质量控制问题

　　· 数据可以Excel形式输出

　　· SPECTester比表面仪分析速度快-视样品和应用，10-30分钟内可完成样品检测