涂层测厚仪的无损检测方法与原理

涂层测厚仪的无损检测方法与原理：涂层测厚仪在现实测量中是一门理论上综合性较强，又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质，产品设计，制造工艺，断裂力学以及有限元计算等诸多方面。

　　在化工，电子，电力，金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常采用喷涂有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。

　　覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的zui重要工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。

　　有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。因有放射源，故，使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。

　　电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。

　　磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1%。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用zui广泛的仪器。超声波物位计,超声波液位计,超声波测厚仪。

　　采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几种常规测厚的方法