火焰原子吸收和石墨炉原子吸收分光光度计的背景校正功能有何区别？

火焰原子吸收分光光度计和石墨炉原子吸收分光光度计的背景校正功能有以下区别：

• 背景校正的方法：

• 塞曼效应背景校正法：基于塞曼磁场分裂谱线的原理进行背景扣除。将强磁场置于光源或原子化器，使原子谱线分裂成不同成分，其中波长不变的作为测量光束（包含原子吸收和背景吸收），波长改变的作为参比光束（仅为背景吸收），两者之差即为原子吸收。其优点是使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，可在全波段进行校正，能校正结构背景，准确度高；缺点是校正装置结构复杂，横向磁场塞曼效应需用偏振棱镜分离不同偏振方向的光束，使光能损失较大，有时会产生校正过度，且仪器价格较贵 131415。

• 连续光源背景校正法：与火焰原子吸收分光光度计类似，先用锐线光源（如空心阴极灯）测定原子吸收和背景吸收的总光度，再用氘灯（紫外区）或碘钨灯（可见区）在同一波长测定背景吸收，计算两次测定吸光度之差来校正背景。但在石墨炉中，氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，因为石墨炉原子化过程中背景干扰较大，氘灯校正法可能无法完全满足要求 15。

• 氘灯背景校正法：常用的方法之一，氘灯在紫外区有连续的发射光谱，通过比较空心阴极灯和氘灯在同一波长下的光强比例来校正背景。其优点是灵敏度高，应用广泛，适合火焰校正；缺点是采用两种不同的光源，需较高技术调整光路平衡，且只能校正紫外区的背景信号，不能校正可见区的背景信号，空心阴极灯和氘灯的光斑很难完全重合，会导致校正误差，有临近谱线干扰时可能校正过度 15。

• 自吸收校正背景法（Sr 法）：利用空心阴极灯在不同电流工作下的谱线变化来校正背景。低电流时测定原子吸收和背景吸收总和，高电流时由于发射线自吸收变宽，可测定背景吸收。优点是使用同一光源；缺点是会加速空心阴极灯的老化，影响灯的寿命，且校正过度，目前这种方式已基本不被采用 151617。

• 邻近非共振线校正背景法：用分析线测量原子吸收和背景吸收的总吸光度，用分析线附近的非共振线测量背景吸收的吸光度，两者相减得到校正后的原子吸收吸光度。该方法只适用于分析线附近背景分布比较均匀的场合，因背景吸收随波长变化，准确度较差 1517。

• 火焰原子吸收分光光度计：

• 石墨炉原子吸收分光光度计：

• 背景校正的效果和适用范围：

• 火焰原子吸收分光光度计：火焰法的背景干扰相对较小，主要源于火焰中的分子吸收和光散射等。氘灯背景校正法在火焰分析中能有效扣除大部分背景干扰，适用于多数常规元素的分析。但对于复杂基体或高盐样品，可能存在一定的校正误差。例如，在测定一些易形成难挥发化合物的元素时，可能受到化学干扰，影响背景校正的效果。

• 石墨炉原子吸收分光光度计：石墨炉法的原子化效率高，灵敏度比火焰法高，但背景干扰也更为严重，主要包括分子吸收和固体微粒产生的光散射干扰等。塞曼效应背景校正法在石墨炉分析中具有明显优势，能更准确地扣除复杂背景，适用于痕量和超痕量元素的分析，尤其是对背景干扰严重的样品。然而，该方法仪器结构复杂，成本较高。例如，在分析土壤、生物样品等复杂基体中的微量元素时，塞曼效应背景校正法能有效提高分析的准确性。