用扫描电子显微镜进行形貌分析有哪些特点

放大倍率大。。高达几十万倍。。
分辨率高。。几个nm
景深大
成本高
样品可能需要前处理
操作较复杂
以下抄来的：
和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜SEM（Scanning Electron Microscope）具有以下特点： 　　
(一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 　　
(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。 　　
(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。 　
(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。
(五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。
(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。 　　
(七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。