传统的点/线探测器技术：
通过测量应力引起的衍射角偏移，从而算出应力大小。测量时需要多次（一般5-7次）改变X射线的入射角，并且调整一维探测器的位置找到相应入射角的衍射角。
施加应力后，通过测角仪得到衍射角发生变化的角度，从而计算得到应力数据。
全二维面探测器技术：
单角度一次入射后，利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力。
施加应力后，分析单次入射前后德拜环的变化，即可获得全部残余应力信息。
