简述俄歇电子能谱的历史背景

　　最近十年中，固体表面分析方法获得了迅速的发展，它是目前分析化学领域中最活跃的分支之一。 它的发展与催化研究、材料科学和微型电子器件研制等有关领域内迫切需要了解各种固体表面现象密切相关。各种表面分析方法的建立又为这些领域的研究创造了很有利的条件。

　　在表面组分分析方法中，除化学分析用电子能谱以外，俄歇电子能谱是最重要的一种。目前它已广泛地应用于化学、物理、半导体、电子、冶金等有关研究领域中。

　　虽然早在 1925 年法国人俄歇就已在威尔逊云室内首次发现了俄歇电子的径迹，1953 年兰德从二次电子能量分布曲线中第一次辨认出俄歇电子谱线， 但是由于俄歇电子谱线强度低，它常常被淹没在非弹性散射电子的背景中，所以检测它比较困难。 六十年代末期， 由于采用了电子能量分布函数的微分法和使用低能电子衍射的 电子光学系统，才使检测俄歇电子的仪器技术有了突破。 1969 年圆筒形电子能量分析器应用于AES谱仪, 进一步提高了分析的速度和灵敏度。 七十年代以来,AES已迅速地发展成为强有力的固体表面化学分析方法。