半导体芯片是当代电子设备中不可或缺的核心组件之一。无论是计算机、手机、平板电脑还是智能家居，都离不开这些关键的芯片。然而，由于芯片的制造过程异常复杂，为了确保芯片的质量和可靠性，需要做各种测试。其中，推拉力测试是一项非常重要的测试之一。
半导体芯片推拉力测试机是一种用于测试和评估半导体芯片的强度和耐久性的机器。它可以通过施加推拉力来模拟芯片在实际使用中可能遭受的压力，以确保芯片在长时间使用过程中不会出现故障或损坏。
产品特点：
1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据的精度的真实性。
2.三轴运动平台，双摇杆控制机器操作简单快捷。
3.采用3D立体传感技术，自动测试功能保证测试精度及数据准确性。
4.只需手动更换相对应的测试头即可实现推力及拉力测试功能。
产品参数：
设备型号：LB-8000D
测试精度：±0.25%
测试范围：推力0-5000克（可根据客户，配置不同传感器）
工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性
外型尺寸：长：500mm宽：550mm高：440mm
传感器更换方式：手动
操作系统：控制系统+Windows操作界面
平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转
X轴行程：75mm
X轴分辨率：±0.002mm
Y轴行程：75mm
Y轴分辨率：±0.002mm
Z轴行程：75mm
乙轴分辨率：±0.001mm
重量：35kg
功率：300W(MAX)
电源：220V±5%