荧光X射线测厚仪的基本信息介绍

　　荧光X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。

　　基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包，实现了对cmi900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素，数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求。