蔡司的场发射扫描电镜家族又添新成员

　　蔡司（ZEISS）的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）家族又添新成员。蔡司近日宣布推出最新的旗舰产品 – ZEISS GeminiSEM 450。这台仪器融合了超高分辨率的成像和先进的分析功能，同时维持了灵活性和易用性。

　　GeminiSEM 450更快的响应和更高的表面灵敏度使用户能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析。由于Gemini 450能够精确和独立地控制电子束斑和束流，因此在高通量电子背散射衍射（EBSD）和低电压X射线光谱（EDS）分析模式下仍能保持高分辨率的成像，在低电压条件下工作时更为出色。

　　GeminiSEM 450采用Gemini 2镜筒设计，可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换。这使得GeminiSEM 450成为满足成像和分析苛刻要求的理想平台。经过优化的电子光学镜筒，减少了工作过程中进行重新校准的复杂流程，节省成像时间，提高工作效率。

　　此外，无论是不导电样品、磁性样品或是其他类型的样品，GeminiSEM 450均可实现快速和高质量的成像和分析。值得一提的是，它的可变压力技术降低了不导电样品的充电量，不会影响透镜内检测能力，同时通过减少裙边效应实现高分辨率EDS分析。

　　基于这些设计，蔡司GeminiSEM 450为材料科学、生命科学领域及工业实验室的各种应用提供了一种灵活的仪器。

应用示例：真核细胞纤毛，使用GeminiSEM 450 BSD背散射探测器成像

　　蔡司公司的电子显微镜主管Michael Albiez博士表示：“借助蔡司GeminiSEM 450，我们推出了全新的FE-SEM旗舰产品，以实现最高性能分析和超高分辨率。除了此次产品发布，我们还对蔡司GeminiSEM和Sigma系列产品进行了重大改进。举例来说，蔡司Sigma系列现在有了以前只有Gemini系列才具备的高分辨率电子枪模式。”