对以TATB为基的高聚物粘结炸药(JB1)进行了超声空化处理,并利用扫描电镜(SEM)观察了处理前后JB1炸药表面的细观形貌,用X射线能谱仪(EDS)检测了处理前后JB1炸药表面的相对元素含量。结果表明:超声空化处理可以使JB1炸药表面的粘结剂和炸药晶体的界面脱粘,使炸药晶体裸露。随着超声空化处理时间的延长,炸药晶体裸露程度加大,炸药晶体表面的小孔洞增加,表面也变得更加粗糙和疏松,起爆感度提高。
一、高聚物的K、α参数的重要性用凝胶渗透色谱单检测器(RI)测定高聚物的分子量及其分布是一种相对的测试方法。首先要制取适合被测样品的log[η]·M-Ve标定线（工作曲线）。普适校正法是用流体力学体积......
一、 凝胶渗透色谱法产生的背景凝胶渗透色谱[GPC（GelPermeationChromatography）][也称作体积排斥色谱(SizeExclusionChromatography)]......
粘度法测定高聚物的摩尔质量实验目的：1.了解粘度法测定高聚物分子量的基本原理和公式2.掌握用乌氏(Ubbelohde)粘度计测定高聚物溶液粘度的原理与方法。3.测定聚丙烯酰胺或聚乙烯醇的摩尔质量。实验......
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银......
当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，......
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减......
本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5～1......
本文利用薄膜对入射电子束流的衰减作用和薄膜对衬底的x射线的吸收,提出了一种直接利用衬底的x射线的强度比来测量薄膜厚度的方法。并在各种实验条件下,对Cu薄膜的厚度进行了测量,得到了较为满意的结果。&nb......
随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水......
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用......