在600℃,7Pa的低真空条件下对表面为蓝紫色UO2的贫铀进行高温热氧化处理,得到表面为银白色的致密氧化膜。俄歇深度剖析表明氧化层中C、O元素具有偏析富集现象。利用腐蚀电化学综合测试仪的线性极化、动电位极化和交流阻抗谱技术研究了真空热氧化膜的抗腐蚀性能。采用扫描电子显微镜(SEM)及其附带的X射线能谱仪(EDS)对腐蚀表面形态和微区成分进行了分析。